[发明专利]一种玻璃基板的缺陷分布显示方法及显示装置

权利要求书

1.一种玻璃基板的缺陷分布显示方法，所述玻璃基板上包括多个显示面板，其特征在于，所述显示方法包括：

根据检测获得的所述玻璃基板上的多个显示面板的缺陷表征信息，生成相应的缺陷分布结果；

将生成的缺陷分布结果生成相应的缺陷聚集分布图并进行显示。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

对所述玻璃基板上的多个显示面板缺陷进行检测，获得所述缺陷的坐标位置、尺寸、数量及类型信息。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，根据检测获得的所述玻璃基板上的多个显示面板的缺陷表征信息，生成相应的缺陷分布结果，具体包括：

确定所述玻璃基板上每个所述显示面板上的缺陷的实际不良数，以及整个玻璃基板上总的缺陷不良数；

根据确定的玻璃基板上总的缺陷不良数以及整个玻璃基板包含的显示面板的个数，计算出每个所述显示面板上缺陷的平均不良数；

根据确定的每个所述显示面板上缺陷的实际不良数和每个所述显示面板上缺陷的平均不良数，计算出每个所述显示面板的缺陷聚集倍数。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，根据检测获得的所述玻璃基板上的多个显示面板的缺陷表征信息，生成相应的缺陷分布结果，还包括：

根据确定的每个所述显示面板上缺陷的实际不良数，计算出每个所述显示面板相对于其余所有显示面板的缺陷聚集倍数。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，将生成的缺陷分布结果生成相应的缺陷聚集分布图并进行显示，具体包括：

将多个显示面板的缺陷在玻璃基板上的分布结果生成对应于显示区域的缺陷聚集分布图，并进行显示。

6.一种采用如权利要求1-5任一项所述的玻璃基板的缺陷分布显示方法的显示装置，其特征在于，包括：检测单元、分析计算单元和显示单元；

所述检测单元用于对所述玻璃基板上的多个显示面板的缺陷进行检测，获得所述缺陷的坐标位置、尺寸、数量及类型信息；

所述分析计算单元用于根据检测获得的所述玻璃基板上的多个显示面板的缺陷表征信息，生成相应的缺陷分布结果；

所述显示单元用于将生成的缺陷分布结果生成相应的缺陷聚集分布图并进行显示。

7.如权利要求6所述的显示装置，其特征在于，所述分析计算单元，具体用于：

确定所述玻璃基板上每个所述显示面板上的缺陷的实际不良数，以及整个玻璃基板上总的缺陷不良数；

根据确定的玻璃基板上总的缺陷不良数以及整个玻璃基板包含的显示面板的个数，计算出每个所述显示面板上缺陷的平均不良数；

根据确定的每个所述显示面板上缺陷的实际不良数和每个所述显示面板上缺陷的平均不良数，计算出每个所述显示面板的缺陷聚集倍数。

8.如权利要求7所述的显示装置，其特征在于，所述分析计算单元，还用于：

根据确定的每个所述显示面板上缺陷的实际不良数，计算出每个所述显示面板相对于其余所有显示面板的缺陷聚集倍数。

9.如权利要求6所述的显示装置，其特征在于，所述显示单元，具体用于：

将多个显示面板的缺陷在玻璃基板上的分布结果生成对应于显示区域的缺陷聚集分布图，并进行显示。