[发明专利]比色装置、掩模构件以及比色系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种比色装置、其掩模构件以及在比色装置上安装有掩模构件的比色系统。

背景技术

对于各种工业产品等，为了确保固定的品质，例如表面的色彩在产品之间保持为相同。因此，在从制造到出厂的某一个阶段，需要通过利用比色计等测定表面的色彩来管理表面的色彩。在这种比色计中，例如设置有照明受光系统，该照明受光系统具有对产品等这样的作为比色的对象的物体(还称为比色对象物)的表面进行照明的光源以及接收从该表面发出的反射光等光的传感器。

另外，比色对象物的表面中的作为色彩的管理的对象的部位、即作为比色的对象的部位(还称为比色对象部位)的尺寸和形状有可能根据比色对象物的形状和尺寸、顾客的要求以及制造方法等各种条件而不同。但是，按每个条件准备不同的比色计对于制造者来说在经济上成为大的负担。

因此，提出了如下的便携用色彩测定装置：通过配置能够根据条件而在比色对象物与比色计的主体部之间更换的头锥体(nose cone)，使得能够变更作为比色的对象的区域(还称为比色对象区域)的尺寸等(例如专利文献1等)。该头锥体具有规定比色对象区域的尺寸等的窗部，以覆盖照明受光部的方式安装于比色计，在进行比色对象物的比色时能够作为与比色对象物接触的构件(还称为掩模构件)发挥功能。

在这种结构中，在更换掩模构件时，有时必须根据掩模构件的种类来变更在光学系统的变更以及比色的运算中使用的校正系数等。因此，在上述专利文献1的装置中，在主体部的下半部分设置1个以上的磁开关，利用磁开关来监视从配置于掩模构件的磁铁发出的磁场，由此自动地识别并显示掩模构件的种类。

专利文献1：日本特表2000-505887号公报

发明内容

发明要解决的问题

另外，在上述专利文献1的装置中设想如下情况：在设置于掩模构件的多个爪状的止动部分别被插入到在主体部侧以弧状设置的凹部的状态下掩模构件被旋转，从而掩模构件安装于主体部。这种安装机构的方式还被称为卡口式，通过该卡口式的机构，掩模构件能够更容易且可靠地安装于主体部。

然而，在采用卡口式的机构的情况下，如果通过掩模构件的旋转而止动部未到达至凹部的最里侧的部分，则掩模构件的磁铁配置于设想外的位置，由磁开关监视磁场的结果，有可能误认掩模构件的种类。

例如在为了实现主体部的小型化而在主体部的同心圆上排列多个磁开关的情况下，有可能由于在向主体部安装掩模构件时掩模构件的旋转不足而由与应该检测磁场的磁开关不同的其它磁开关来检测出磁场。也就是说，无法实现与掩模构件的种类相应的适当的磁性检测状态。而且，由此有可能误认为与实际安装的掩模构件不同的种类的掩模构件安装于主体部。

这种问题在通过旋转而掩模构件安装于主体部的结构以及通过直线或曲线的滑动而掩模构件安装于主体部的结构中均有可能产生。而且，上述问题是安装掩模构件的比色装置中一般所共有的。

本发明是鉴于上述问题而完成的，其目的在于提供一种能够实现与安装于比色装置的掩模构件的种类相应的适当的检测状态的技术。

用于解决问题的方案

为了解决上述问题，第1方式所涉及的比色装置具备：照明受光部，具有光源部和传感器部；被安装部，用于以覆盖所述照明受光部的方式安装具有窗部的掩模构件；多个检测部，沿着所述掩模构件在被安装到所述被安装部的中途的阶段中相对于所述被安装部移动的安装方向排列，能够分别检测配置于所述掩模构件的被检测部；以及识别部，识别与所述多个检测部中的检测出所述被检测部的2个以上的检测部的组合对应的检测模式。

第2方式所涉及的比色装置在第1方式所涉及的比色装置中，在正在进行所述掩模构件向所述被安装部中的为了执行比色而预先设定的安装位置的安装的中途的安装中途状态下，所述识别部识别与所述多个检测部中的检测出所述被检测部的1个以上的检测部对应的检测模式，在所述掩模构件向所述安装位置的安装完成的安装完成状态下由所述识别部识别的检测模式与在所述安装中途状态下由所述识别部识别的检测模式不同。

第3方式所涉及的比色装置在第1方式所涉及的比色装置中，所述多个检测部中的位于所述安装方向上的最里侧的检测部在所述掩模构件向所述安装位置的安装完成的安装完成状态下检测所述被检测部。

第4方式所涉及的比色装置在第1～第3方式中的任一个方式所涉及的比色装置中，所述多个检测部包括3个以上的检测部，关于所述3个以上的检测部中的两个检测部的所有组合各自的检测部间的距离不同。