[发明专利]测定装置及测定方法

说明书

本发明能够准确且容易地判定由物性互不相同的多个结构体层叠而成的层叠体中各结构体的密接状态是否良好。本发明包括：测定部，该测定部在向由作为物性互不相同的多个结构体的金属箔(101a)和活性物质层(102a)层叠而成的作为层叠体的正极(100a)的表面(S)提供电信号的状态下，执行对表面(S)的测定对象部位(Pv1～Pv3)的电位进行测定的电位测定处理；以及处理部，该处理部使用由电位测定处理测定得到的电位的测定值，执行预先确定的计算处理，从而求得正极(100a)的金属箔(101a)与活性物质层(102a)之间的界面(103a)的界面电阻值。

技术领域

本发明涉及对物性互不相同的多个结构体层叠而成的层叠体中的各结构体间的界面的界面电阻值进行测定的测定装置及测定方法。

背景技术

作为使用由物性互不相同的板状或膜状的多个结构体层叠而成的层叠体的结构体，已知有锂离子电池。该锂离子电池通过叠加多个由活性物质层构成的电极(膜状的两个结构体层叠而成的层叠体)来制作得到，该活性物质层通过在金属箔的一面或两面涂布活性物质来形成。该情况下，作为判定构成锂离子电池的各电极是否合格的一个判定项目，具有判定金属箔与活性物质层之间的密接状态是否良好。作为判定该密接状态是否良好的试验方法，已知有剥离试验(剥皮试验)、附着力试验。剥离试验中，在拉起粘贴于活性物质层表面的粘贴胶带时，对活性物质层从金属箔的剥离处于何种程度进行观察，根据该观察结果来判定密接状态是否良好。在附着力试验中，对例如以0.5mm左右的间距排列的多根针进行推压，对电极的活性物质层的表面施加规定的加重，并通过使该多根针沿着表面直线移动来对活性物质层进行刮擦，接着，使电极旋转90°，并以同样的方式利用各针来对活性物质层进行刮擦。接着，观察因刮擦而产生的活性物质层的剥离程度，根据该观察结果来判定密接状态是否良好。

然而，在上述剥离试验、附着力试验中，由于通过试验者的观察来进行是否良好的判定，因此，判定结果中存在有较多试验者的主观成分，其结果导致存在难以准确地进行金属箔与活性物质层之间的密接状态是否良好的判定的问题。并且，在剥离试验、附着力试验中，由于试验步骤复杂且需要花费时间，因此也存在试验效率较差的问题。发明人对解决这些问题的技术进行了研究，结果发现通过对金属箔与活性物质层之间的界面电阻进行测定，根据该测定值能够判定金属箔与活性物质层之间的密接状态是否良好，只要能够准确且容易地进行界面电阻的测定，则能够解决上述问题。该情况下，作为测定电极这样的板状体的电阻的技术，已知有利用四探针法来测定电阻(表面电阻、体积固有电阻)的测定方法(例如，日本专利第2833623号公报所公开的测定方法)，考虑采用该方法来作为测定界面电阻的方法。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利第2833623号公报(第3-22页、第1图)

发明内容

发明所要解决的技术问题

然而，在现有已知的四探针法中，难以准确地测定构成上述电极的金属箔与活性物质层的界面的电阻。即，从测定原理上来看，四探针法是以测定由单一材料形成的测定对象的电阻为前提的。因此，在对由物性互不相同的多个结构体层叠而成的测定对象的体积固有电阻进行测定时，较难确定测定值是作为测定对象整体的平均体积固有电阻的值，还是靠近表面的部分的体积固有电阻的值。因此，难以利用四探针法来准确地测定金属箔与活性物质层的界面的电阻。由此，难以利用现有的四探针法来测定对准确且容易地判定金属箔与活性物质层的密接状态是否良好而言不可或缺的金属箔与活性物质层的界面的电阻，从而期望能开发出取而代之的技术。

本发明是鉴于上述问题而完成的，其主要目的在于提供一种能够准确且容易地对物性互不相同的多个结构体层叠而成的层叠体中各结构体的密接状态是否良好进行判定的测定装置及测定方法。

解决技术问题所采用的技术方案