[发明专利]一种电器性能指标测试方法及装置

说明书

技术领域

本发明属于电子测试领域，尤其涉及一种电器性能指标测试方法及装置。

背景技术

随着社会的发展，各种电器设备广泛地应用在人们的日常生活当中，对电器性能指标的测试十分有必要，因为这关乎到电器的正常使用。通常，我们对电器性能指标的测试包括电压、电流等等性能测试。

对电器设备进行测试时，必须要用到测试线来连接电器设备和测试设备，而采用现有的测试使用不同长度的测试线，由于测试线的压降不同，会导致测试出来的参数不同。比如，对同一被测设备进行测试，如果被测设备的电压一样，由于采用短测试线的压降小于长测试线的压降，所以导致短测试线测出来的电流大于长测试线测出来的电流。

因此，采用现在的测试方法由于测试线的长短不同，会导致测试结果不同。

发明内容

本发明的目的在于提供一种电器性能指标测试方法，旨在解决采用现在的测试方法由于测试线的长短不同，会导致测试结果不同的问题。

本发明是这样实现的，一种电器性能指标测试方法，所述方法包括如下步骤：

测试被测设备的主板电压；

测试所述被测设备的主板通过测试线的线端电压；

以将所述主板电压调整到预定主板电压为准，对所述被测设备进行调整，测试通过所述测试线的充电电流。

本发明的另一目的在于提供一种电器性能指标测试装置，所述装置包括：

第一电压测试单元，用于测试被测设备的主板电压；

第二电压测试单元，用于测试所述被测设备的主板通过测试线的线端电压；

电流测试单元，用于以将所述主板电压调整到预定主板电压为准，对所述被测设备进行调整，测试通过所述测试线的充电电流。

在本发明中，分别对被测设备的主板电压和通过测试线的线端电压进行测试，并且以将主板电压调整到预定主板电压为准，对被测设备进行调整，测试通过测试线的充电电流，这样的测试结果不会受到长短不同的测试线导致的压降不同的影响，从而提高了测试的精度。

附图说明

图1是本发明实施例提供的电器性能指标测试方法的流程图；

图2是本发明实施例提供的电器性能指标测试装置的结构图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

图1示出了本发明实施例提供的电器性能指标测试方法的流程，为了便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分。

一种电器性能指标测试方法，所述方法包括如下步骤：

步骤S101，测试被测设备的主板电压；

步骤S102，测试所述被测设备的主板通过测试线的线端电压；

步骤S103，以将所述主板电压调整到预定主板电压为准，对所述被测设备进行调整，测试通过所述测试线的充电电流。

作为本发明一实施例，步骤S103，以将主板电压调整到预定主板电压为准，对所述被测设备进行调整，测试通过所述测试线的充电电流的步骤具体包括：

以将所述主板电压调整到预定主板电压为准，对所述被测设备进行调整，测试通过所述测试线的充电电流，具体依据如下公式：

I＝(U1-U2)*S/ρL

其中，U1为线端电压、U2为主板电压、S为测试线横截面积、ρ为测试线电阻率、L为测试线长度。

作为本发明一实施例，所述测试线采用USB线或夹子线。

图2示出了本发明实施例提供的电器性能指标测试装置的结构，为了便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分。

一种电器性能指标测试装置，所述装置包括：

第一电压测试单元1，用于测试被测设备的主板电压；

第二电压测试单元2，用于测试所述被测设备的主板通过测试线的线端电压；

电流测试单元3，用于以将所述主板电压调整到预定主板电压为准，对所述被测设备进行调整，测试通过所述测试线的充电电流。

作为本发明一实施例，所述电流测试单元3具体包括：

电流测试模块31，用于以将所述主板电压调整到预定主板电压为准，对所述被测设备进行调整，测试通过所述测试线的充电电流，具体依据如下公式：

I＝(U1-U2)*S/ρL

其中，U1为线端电压、U2为主板电压、S为测试线横截面积、ρ为测试线电阻率、L为测试线长度。

作为本发明一实施例，所述测试线采用USB线或夹子线。