[发明专利]一种电器性能指标测试方法及装置有效
| 申请号: | 201510128171.7 | 申请日: | 2015-03-20 |
| 公开(公告)号: | CN104749462B | 公开(公告)日: | 2018-04-27 |
| 发明(设计)人: | 刘华中 | 申请(专利权)人: | 广东小天才科技有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
| 代理公司: | 深圳中一专利商标事务所44237 | 代理人: | 张全文 |
| 地址: | 523860 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 电器 性能指标 测试 方法 装置 | ||
1.一种电器性能指标测试方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:
测试被测设备的主板电压;
测试所述被测设备的主板通过测试线的线端电压;
以将所述主板电压调整到预定主板电压为准,对所述被测设备进行调整,测试通过所述测试线的充电电流,采用长短不同的测试线,都不会导致通过测试线的充电电流不同;
对所述被测设备进行调整具体依据如下公式:
I=(U1-U2)*S/ρL
其中,U1为线端电压、U2为主板电压、S为测试线横截面积、ρ为测试线电阻率、L为测试线长度。
2.如权利要求1所述的电器性能指标测试方法,其特征在于,所述测试线采用USB线或夹子线。
3.一种电器性能指标测试装置,其特征在于,所述装置包括:
第一电压测试单元,用于测试被测设备的主板电压;
第二电压测试单元,用于测试所述被测设备的主板通过测试线的线端电压;
电流测试单元,用于以将所述主板电压调整到预定主板电压为准,对所述被测设备进行调整,测试通过所述测试线的充电电流,采用长短不同的测试线,都不会导致通过测试线的充电电流不同;
对所述被测设备进行调整具体依据如下公式:
I=(U1-U2)*S/ρL
其中,U1为线端电压、U2为主板电压、S为测试线横截面积、ρ为测试线电阻率、L为测试线长度。
4.如权利要求3所述的电器性能指标测试装置,其特征在于,所述测试线采用USB线或夹子线。
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