[发明专利]一种检测核酸分子缺失突变的方法在审

专利信息
申请号: 201510128081.8 申请日: 2015-03-24
公开(公告)号: CN104651529A 公开(公告)日: 2015-05-27
发明(设计)人: 黄秋英;李庆阁 申请(专利权)人: 厦门大学
主分类号: C12Q1/68 分类号: C12Q1/68
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 林远成
地址: 361005 福建*** 国省代码: 福建;35
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 检测 核酸 分子 缺失 突变 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种检测核酸分子缺失突变的方法,尤其涉及一种通过探针熔解曲线检测核酸分子缺失突变的方法,以及用于检测核酸分子缺失突变的反应体系和试剂盒。

背景技术

缺失突变是指染色体或DNA或RNA序列发生部分丢失的一种突变,可以造成遗传物质的丢失。缺失突变可以是不同数量的核苷酸的缺失,可以从只有单个碱基缺失到整个染色体片段的缺失。狭义的缺失突变指核酸分子较长片段的缺失,不包括单个碱基及少数几个碱基的缺失。缺失突变常造成遗传物质的丢失,往往直接导致所编码蛋白表达量及表达水平的变化,从而导致一系列生物学效应。缺失突变所导致的生物学效应,涉及到疾病发病机制分析、疾病诊断标志物、药物敏感性、药物治疗靶点等领域。

检测核酸分子缺失突变的方法已有很多,传统的包括Southern杂交法、荧光原位杂交(fluorescent in situ hybridization,FISH),上述两种方法在早期对基因缺失的发现、缺失类型的鉴定等起了重要的作用,但是由于其具有操作步骤繁琐、费时费力、成本较高、对实验人员要求高等缺点,不适合用于临床上常规的缺失突变检测。目前用于检测缺失突变的主要技术是跨越断裂点PCR(gap-PCR)技术,该技术采用跨越断裂点的引物,通过PCR扩增之后琼脂糖凝胶电泳分析PCR产物的有无及片段长度的大小来判定是否含有缺失及缺失的类型。该技术在临床上得到比较广泛的应用,但需要PCR之后的电泳分析,操作步骤较多,且易造成PCR产物污染,造成假阳性的发生。近年来发展的MLPA(多重连接依赖的探针扩增,Multiplex ligation-dependent Probe amplification)技术,可在一个反应中同时检测多个核酸片段的缺失和重复,在临床上也得到较大的认可,但其检测成本高、操作繁琐、需要特殊的仪器设备等限制,不适合临床常规使用。因此,开发一种准确稳定、快速简便、无需PCR后处理的缺失突变检测技术,成为当前的迫切需要。

发明内容

本发明的发明人经过大量实验和反复摸索,开发出一种基于荧光探针熔解曲线分析技术的核酸分子缺失突变的检测方法,并进一步提供了基于该检测方法的反应体系和试剂盒,由此完成了本发明。

本发明第一方面涉及一种检测核酸分子是否存在缺失突变的方法,其包括以下1)~4)项:

1)根据核酸分子缺失的断裂点位置,设计荧光探针,使荧光探针与野生型核酸分子和与存在缺失突变的核酸分子形成的双链杂交体之间的匹配程度具有差异,从而具有不同的熔点(Tm)值;

2)设计扩增核酸的引物组,该引物组既能扩增野生型核酸分子,又能扩增存在缺失突变的核酸分子,且扩增的产物包括核酸分子与荧光探针的结合区域;

3)以待检核酸样本为模板,利用步骤1)和2)设计的探针和引物组,进行PCR扩增和熔解曲线分析;

4)根据熔解曲线分析中是否有相应的熔解峰和/或熔点(Tm)值的高低来判定是否存在核酸缺失突变,以及任选地判断缺失突变的类型。

在本发明的实施方案中,其中所述核酸为核糖核酸(RNA)或脱氧核糖核酸(DNA)。

在本发明的实施方案中,其中所述缺失突变是指15nt以上的寡核苷酸片段的缺失,例如是指100nt以上的寡核苷酸片段的缺失。

在本发明的实施方案中,其中所述荧光探针选自自淬灭探针、相邻探针、容忍型分子信标、只标记荧光基团的寡核苷酸探针(如HyBeacon探针)、荧光标记探针结合荧光嵌入染料、荧光标记探针结合荧光淬灭染料。

在本发明的实施方案中,其中所述荧光探针与野生型核酸分子和与存在缺失突变的核酸分子形成的双链杂交体之间的熔点(Tm)值相差2℃以上,例如为3℃以上,5℃以上,10℃以上,15℃以上。

在本发明的实施方案中,其中所述荧光探针与野生型核酸分子和与存在缺失突变的核酸分子形成的双链杂交体之间匹配程度具有差异,这种差异可以是在荧光探针5′末端与野生型核酸分子和与存在缺失突变的核酸分子形成的双链杂交体之间匹配程度有差异,或荧光探针3′末端与野生型核酸分子和与存在缺失突变的核酸分子形成的双链杂交体之间匹配程度有差异。

在本发明的实施方案中,其中所述荧光探针为一种或多种。

在本发明的实施方案中,其中所述引物组的上、下游引物中有一种引物相对过量(上游引物过量或下游引物过量)。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于厦门大学;,未经厦门大学;许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510128081.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top