[发明专利]一种快速测试薄膜累积厚度的仪器及其测试方法

说明书

技术领域

本发明属于薄膜检测技术领域，尤其涉及一种快速测试薄膜累积厚度的仪器及其测试方法。

背景技术

薄膜的厚度是薄膜的关键性能，薄膜厚度的均匀性对于薄膜的使用起着关键性的作用，尤其是在电容器用薄膜上。

电容膜的累积厚度对于制成薄膜电容器的电气性能和安装是关键影响因素。由于薄膜在生产过程中会有厚度波动情况，若是某个区域存在持续的厚度高点或低点，即厚度“死点”，在薄膜收卷后就会形成厚度累积，导致薄膜折皱。影响薄膜的电气性能和产品品质。

在实现本发明的过程中，发明人发现现有技术至少存在以下问题：由于聚酯电容膜非常薄，薄膜间的空气对于薄膜测试精度影响较大，采用常规的使用10层打点测试多层厚度或者单层厚度，测试结果误差大，无法检测出厚度“死点”，而且检测时间较长。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种便于检测薄膜的累计厚度、精度高、操作简便的快速测试薄膜累积厚度的仪器及其测试方法。

为了解决上述技术问题，本发明所采用的技术方案是：一种快速测试薄膜累积厚度的仪器，具有：

游标卡尺，其具有主尺及能在主尺上滑动的游标，所述主尺端部固定设有固定卡脚，所述游标上固定设有活动卡脚；

延伸卡脚，所述延伸卡脚有两个，分别与固定卡脚、活动卡脚连接；两个延伸卡脚构成薄膜卷的夹持部。

两个延伸卡脚为圆柱形。

两个延伸卡脚的长度相同。

两个延伸卡脚分别与固定卡脚、活动卡脚焊接。

上述的快速测试薄膜累积厚度的仪器的测试方法，包括如下步骤：

1)生产3.5μm，收卷长度为21200米的电容膜时，薄膜卷的标准卷径为367mm；在薄膜卷上任取多处进行卷径测量，测量时两个延伸卡脚贴紧薄膜卷，通过游标卡尺读出卷径并记录；若任何一处卷径偏差超过±1.5mm，即为厚度累积不合格；

2)生产4.5μm，收卷长度为16500米的电容膜理论标准卷径为370mm；在薄膜卷上任取多处进行卷径测量，测量时两个延伸卡脚贴紧薄膜卷，通过游标卡尺读出卷径并记录；若任何一处卷径偏差超过±1.5mm，即为厚度累积不合格。

在薄膜卷上选取位置进行卷径测量时，分别在薄膜卷两端和中部选取，并且选取位置总数在3～10处。

上述技术方案中的一个技术方案具有如下优点或有益效果，通过游标卡尺在薄膜不同区域检测薄膜的卷径，根据卷径的大小和理论标准卷径的对比，就能很快发现厚度累积。及时通知生产进行某区域的厚度调节。大大提高了反应时间，提高了产品品质。便于检测薄膜的累计厚度、精度高、操作简便。可根据不同卷径选择不同量程的仪器，实用范围广。

附图说明

图1为本发明实施例中提供的快速测试薄膜累积厚度的仪器的结构示意图；

上述图中的标记均为：1、主尺，2、游标，3、固定卡脚，4、活动卡脚，5、延伸卡脚。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。

实施例一

参见图1，一种快速测试薄膜累积厚度的仪器，具有：

游标卡尺，其具有主尺1及能在主尺1上滑动的游标2，所述主尺1端部固定设有固定卡脚3，所述游标2上固定设有活动卡脚4；

延伸卡脚5，所述延伸卡脚5有两个，分别与固定卡脚3、活动卡脚4连接；两个延伸卡脚5构成薄膜卷的夹持部。

两个延伸卡脚5为圆柱形。通过改装游标卡尺，在游标卡尺的卡脚加装加长的圆形卡脚，便于检测，延伸卡脚5为圆柱形，可避免因仪器锐角对薄膜表面造成的损伤。

两个延伸卡脚5的长度相同。

两个延伸卡脚5分别与固定卡脚3、活动卡脚4焊接。

实施例二

上述的快速测试薄膜累积厚度的仪器的测试方法，包括如下步骤：

1)生产3.5μm，收卷长度为21200米的电容膜时，薄膜卷的标准卷径为367mm；在薄膜卷上任取多处进行卷径测量，测量时两个延伸卡脚5贴紧薄膜卷，通过游标卡尺读出卷径并记录；若任何一处卷径偏差超过±1.5mm，即为厚度累积不合格；

2)生产4.5μm，收卷长度为16500米的电容膜理论标准卷径为370mm；在薄膜卷上任取多处进行卷径测量，测量时两个延伸卡脚5贴紧薄膜卷，通过游标卡尺读出卷径并记录；若任何一处卷径偏差超过±1.5mm，即为厚度累积不合格。