[发明专利]一种快速测试薄膜累积厚度的仪器及其测试方法

权利要求书

1.一种快速测试薄膜累积厚度的仪器，其特征在于，具有：

游标卡尺，其具有主尺(1)及能在主尺(1)上滑动的游标(2)，所述主尺(1)端部固定设有固定卡脚(3)，所述游标(2)上固定设有活动卡脚(4)；

延伸卡脚(5)，所述延伸卡脚(5)有两个，分别与固定卡脚(3)、活动卡脚(4)连接；两个延伸卡脚(5)构成薄膜卷的夹持部。

2.如权利要求1所述的快速测试薄膜累积厚度的仪器，其特征在于，两个延伸卡脚(5)为圆柱形。

3.如权利要求2所述的快速测试薄膜累积厚度的仪器，其特征在于，两个延伸卡脚(5)的长度相同。

4.如权利要求3所述的快速测试薄膜累积厚度的仪器，其特征在于，两个延伸卡脚(5)分别与固定卡脚(3)、活动卡脚(4)焊接。

5.如权利要求1-4任一所述的快速测试薄膜累积厚度的仪器的测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

1)生产3.5μm，收卷长度为21200米的电容膜时，薄膜卷的标准卷径为367mm；在薄膜卷上任取多处进行卷径测量，测量时两个延伸卡脚(5)贴紧薄膜卷，通过游标卡尺读出卷径并记录；若任何一处卷径偏差超过±1.5mm，即为厚度累积不合格；

2)生产4.5μm，收卷长度为16500米的电容膜理论标准卷径为370mm；在薄膜卷上任取多处进行卷径测量，测量时两个延伸卡脚(5)贴紧薄膜卷，通过游标卡尺读出卷径并记录；若任何一处卷径偏差超过±1.5mm，即为厚度累积不合格。

6.如权利要求5所述的快速测试薄膜累积厚度的仪器的测试方法，其特征在于，在薄膜卷上选取位置进行卷径测量时，分别在薄膜卷两端和中部选取，并且选取位置总数在3～10处。