[发明专利]绝缘材料对电接触性能影响的可标准化的测试方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种绝缘材料的测试领域，尤其涉及一种绝缘材料对电接触性能影响的可标准化的测试方法及装置。

背景技术

电力行业快速发展，给其他行业带来了众多便利，但是电气火灾事故的频发，也给企业生产、居民生活带来了很大损失和不便。电气线路和用电设备，在经过长时间的过负荷运行或者存在不良的电气连接等情况，导致绝缘层出现老化、破损和接触不良等问题，就可能引发电气事故。绝缘材料的可靠性是电气设备安全稳定运行的重要基础，因此，进行绝缘材料对电接触性能影响的测试评估是有重要意义的。

绝缘材料在高热环境下会部分挥发，沉积在电接触设备表面，给电路造成的负担，对电接触表面接触电阻产生影响。目前，对绝缘材料的检测主要关注的是绝缘材料本身的损耗、老化等问题(中国专利申请号：201210510916.2)，并没有一种标准的方式方法来检测绝缘材料在电接触装置中对电接触性能造成的影响。

发明内容

为解决现有绝缘材料对电接触性能影响检测方法的不足，本发明的目的在于提供一种绝缘材料对电接触性能影响的可标准化的测试方法及装置，实现对绝缘材料对电接触性能影响的检测。

为实现上述目的，本发明将采用如下技术方案：

本发明提供一种绝缘材料对电接触性能影响的可标准化的测试方法，所述方法是按照普通工业用电电压，在标准负载下，设定试验电流大小，并通过四端子法测量绝缘材料在不同条件下的电接触触头表面接触电阻值，以实现对绝缘材料对电接触性能影响的检测。

所述方法包括以下步骤：

①设置密闭测试箱的恒温环境，设定标准负载的类型和大小，放置好绝缘材料，设置拨码开关编号与绝缘材料的对应；

②设置绝缘材料的检测环境温度阶梯，分别在不同的恒定温度下，检测绝缘材料；

③在MCU控制器内设置好表面接触电阻的测量频率，当动静触头接触次数到达要求时，MCU控制器中发送一个信号给主电路的交流接触器和接触电阻测量电路，交流接触器接受到信号后，切断主电路电源，而接触电阻测量电路收到信号时开始测量接触电阻；

④通过接触电阻测量电路测量触头材料的接触电阻，经过放大滤波后，将得到的信号传送至MCU控制器的A/D转换模块转换为数字量；

⑤MCU控制器调用故障检测算法进行判断，当接触电阻值连续5次大于设置值时，认定绝缘材料失效，记录下绝缘材料种类、试验时间、接触电阻值、试验条件；更换绝缘材料，改变拨码开关值，重新开始试验，循环往复，直至所有绝缘材料完成试验。

本发明还提供一种可标准化的绝缘材料对电接触性能影响的测试装置，所述装置包括：主电路、用于电触头接触或分离的动作设备、用于动作设备的控制部件、用于测量接触电阻的接触电阻检测电路和用于整个装置控制的MCU控制器，其中：所述MCU控制器发出信号给所述用于动作设备的控制部件，控制所述动作设备的运动时间、速度和方向，所述MCU控制器按照设定好的检测接触电阻的频率，发送信号至主电路的交流接触器，切断主电路电源，同时开启所述接触电阻检测电路进行接触电阻检测，并将检测信号返回至MCU控制器保存。

优选的，所述用于电触头接触或分离的动作设备，包括：伺服电机、凸轮、弹簧杆、用于安装动静触头的动静触头支架，所述MCU控制器控制伺服电机工作，凸轮在伺服电机的带动下拉动弹簧杆，使动触头以一速度运动，同时动、静触头分离，产生电弧。

优选的，所述用于动作设备的控制部件，可以采用伺服电机控制器。

优选地，所述的绝缘材料、电触头材料以及动静触头支架均位于密闭测试箱中，密闭测试箱保证了绝缘材料的测试环境是恒温的。

所述的测试腔内放置有温度控制器，以保证绝缘材料检测是在恒温下进行的电气性能检测。

所述的MCU控制器，在间隔N次电接触材料接触后测试一次接触电阻。MCU控制器产生一路控制信号给伺服电机控制器，用于控制电机运动时间、速度和方向，同时对电触头接触次数计数，当到达N次时，发送信号至交流接触器，切断主电路电源，该信号同时发送至接触电阻检测电路，开启接触电阻检测。

所述的接触电阻检测电路的输出信号连接放大滤波电路信号输入端，放大滤波电路的输出端连接于MCU控制器。

所述的MCU控制器中设有拨码开关，当更换绝缘材料时，改变拨码开关值，一种绝缘材料对应一个拨码开关值。

所述的MCU控制器内存储下每次测量的接触电阻，可得到同一种绝缘材料在不同温度下，接触电阻随时间的变化，也可得到不同绝缘材料在相同温度下，接触电阻随时间的变化。