[发明专利]绝缘材料对电接触性能影响的可标准化的测试方法及装置

权利要求书

1.一种绝缘材料对电接触性能影响的可标准化的测试方法，特征在于，所述方法包括以下步骤：

①设置密闭测试箱的恒温环境，设定标准负载的类型和大小，放置好绝缘材料，设置拨码开关编号与绝缘材料的对应；

②设置绝缘材料的检测环境温度阶梯，分别在不同的恒定温度下，检测绝缘材料；

③在MCU控制器内设置好表面接触电阻的测量频率，当动静触头接触次数到达要求时，MCU控制器中发送一个信号给主电路的交流接触器和接触电阻测量电路，交流接触器接受到信号后，切断主电路电源，而接触电阻测量电路收到信号时开始测量接触电阻；

④通过接触电阻测量电路测量触头材料的接触电阻，经过放大滤波后，将得到的信号传送至MCU控制器的A/D转换模块转换为数字量；

⑤MCU控制器调用故障检测算法进行判断，当接触电阻值连续5次大于设置值时，认定绝缘材料失效，记录下绝缘材料种类、试验时间、接触电阻值和试验条件；更换绝缘材料，改变拨码开关值，重新开始试验，循环往复，直至所有绝缘材料完成试验。

2.根据权利要求1所述的一种绝缘材料对电接触性能影响的可标准化的测试方法，其特征在于：所述负载类型是纯阻性、阻性+感性、或阻性+感性+容性，负载大小根据电触头功率和电压计算。

3.根据权利要求1所述的一种绝缘材料对电接触性能影响的可标准化的测试方法，其特征在于：所述分别在不同的恒定温度下是指从100℃开始以10℃幅度逐渐增加。

4.根据权利要求1所述的一种绝缘材料对电接触性能影响的可标准化的测试方法，其特征在于：所述当接触电阻值连续5次大于设置值时，其中设置值为1毫欧，在不同的触头材料该值有变化。

5.一种用于上述任一项权利要求所述方法的可标准化的绝缘材料对电接触性能影响的测试装置，其特征在于：所述装置包括：主电路、用于电触头接触或分离的动作设备、用于动作设备的控制部件、用于测量接触电阻的接触电阻测量电路和用于整个装置控制的MCU控制器，其中：所述MCU控制器发出信号给所述用于动作设备的控制部件，控制所述动作设备的运动时间、速度和方向，所述MCU控制器按照设定好的检测接触电阻的频率，发送信号至主电路的交流接触器，切断主电路电源，同时开启所述接触电阻测量电路进行接触电阻检测，并将检测信号返回至MCU控制器保存。

6.根据权利要求5所述的一种可标准化的绝缘材料对电接触性能影响的测试装置，其特征在于：所述用于电触头接触或分离的动作设备，包括：伺服电机、凸轮、弹簧杆、用于安装动静触头的动静触头支架，所述MCU控制器控制伺服电机工作，凸轮在伺服电机的带动下拉动弹簧杆，使动触头以一速度运动，同时动、静触头分离，产生电弧。

7.根据权利要求6所述的一种可标准化的绝缘材料对电接触性能影响的测试装置，其特征在于：所述用于动作设备的控制部件采用伺服电机控制器。

8.根据权利要求6所述的一种可标准化的绝缘材料对电接触性能影响的测试装置，其特征在于：所述的绝缘材料、触头材料以及动静触头支架均位于密闭测试箱中以保证绝缘材料的测试环境是恒温的；所述的密闭测试箱内放置有温度控制器以保证绝缘材料检测是在恒温下进行的电气性能检测。

9.根据权利要求5-8任一项所述的一种可标准化的绝缘材料对电接触性能影响的测试装置，其特征在于：所述的接触电阻测量电路的输出信号连接放大滤波电路信号输入端，放大滤波电路的输出端连接于MCU控制器。

10.根据权利要求5-8任一项所述的一种可标准化的绝缘材料对电接触性能影响的测试装置，其特征在于：所述的MCU控制器中设有拨码开关，当更换绝缘材料时，改变拨码开关值，一种绝缘材料对应一个拨码开关值；所述的MCU控制器内存储下每次测量的接触电阻，得到同一种绝缘材料在不同温度下接触电阻随时间的变化，和/或得到不同绝缘材料在相同温度下接触电阻随时间的变化。