[发明专利]半导体装置及其调节电路有效
| 申请号: | 201510079494.1 | 申请日: | 2015-02-13 |
| 公开(公告)号: | CN105281751B | 公开(公告)日: | 2019-06-04 |
| 发明(设计)人: | 徐荣锡;林多絪 | 申请(专利权)人: | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号: | H03L7/08 | 分类号: | H03L7/08 |
| 代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 俞波;周晓雨 |
| 地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 半导体 装置 及其 调节 电路 | ||
1.一种半导体装置的调节电路,包括:
控制块,配置成响应于参考时钟信号和反馈时钟信号而产生控制信号;以及
噪声补偿块,配置成响应于所述控制信号而补偿电源的电平变化,
其中,所述控制块包括:
相位差检测单元,配置成检测所述参考时钟信号和所述反馈时钟信号之间的相位差,且产生相位差检测信号;
掩蔽信号发生单元,配置成响应于所述参考时钟信号而产生掩蔽信号;
有效信号发生单元,配置成检测所述掩蔽信号和通过延迟所述反馈时钟信号而产生的延迟反馈时钟信号之间的相位差,且产生有效信号;以及
控制信号发生单元,配置成响应于所述有效信号和所述相位差检测信号而产生所述控制信号。
2.如权利要求1所述的调节电路,还包括:
延迟锁定环,配置成:利用通过缓冲外部时钟信号而产生的所述参考时钟信号和通过延迟所述参考时钟信号而产生的所述反馈时钟信号来产生延迟锁定时钟信号。
3.如权利要求1所述的调节电路,其中,所述控制块被配置成:根据所述参考时钟信号和所述反馈时钟信号之间的相位差来确定所述电源的噪声程度,且当确定的噪声值大于参考值时,根据所述参考时钟信号和所述反馈时钟信号之间的相位差来转变所述控制信号。
4.如权利要求3所述的调节电路,其中,所述控制块被配置成:当所述噪声值小于所述参考值时防止所述控制信号的转变。
5.如权利要求1所述的调节电路,其中,所述掩蔽信号是在通过延迟所述参考时钟信号而产生的延迟参考时钟信号的上升沿两侧具有预定脉冲宽度的脉冲信号。
6.如权利要求3所述的调节电路,其中,所述参考值根据所述掩蔽信号的脉冲宽度来确定。
7.如权利要求1所述的调节电路,其中,所述有效信号发生单元被配置成输出通过利用所述延迟反馈时钟信号锁存所述掩蔽信号而产生的信号作为所述有效信号。
8.如权利要求1所述的调节电路,其中,所述控制信号发生单元被配置成:当所述有效信号被激活时,响应于所述相位差检测信号而确定所述控制信号的转变。
9.如权利要求8所述的调节电路,其中,所述控制信号发生单元被配置成:当所述有效信号被去激活时,将所述控制信号保持在先前的值,无论所述相位差检测信号如何。
10.如权利要求1所述的调节电路,其中,所述噪声补偿块包括:
多个去耦电容器,电耦接在电力线和接地端子之间;以及
多个开关,配置成响应于所述控制信号而并联电耦接或串联电耦接所述多个去耦电容器。
11.一种半导体装置,包括:
延迟锁定环,配置成通过将参考时钟信号延迟与所述参考时钟信号和反馈时钟信号之间的相位差相对应的延迟时间来产生延迟锁定时钟信号;
相位差检测单元,配置成检测所述参考时钟信号和所述反馈时钟信号之间的相位差,且产生相位差检测信号;
掩蔽信号发生单元,配置成响应于所述参考时钟信号而产生掩蔽信号;
有效信号发生单元,配置成检测所述掩蔽信号和通过延迟所述反馈时钟信号而产生的延迟反馈时钟信号之间的相位差,且产生有效信号;
控制信号发生单元,配置成响应于所述有效信号和所述相位差检测信号而产生所述控制信号;以及
噪声补偿块,配置成响应于所述控制信号而补偿电源的电平变化。
12.如权利要求11所述的半导体装置,其中,所述噪声补偿块包括:
多个去耦电容器,电耦接在电力线和接地端子之间;以及
多个开关,配置成根据所述控制信号来并联电耦接或串联电耦接所述多个去耦电容器。
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