[发明专利]电路装置以及电子设备

说明书

本发明提供一种电路装置以及电子设备。电路装置包括：电桥电路，其具有高压侧的晶体管和低压侧的晶体管；控制电路，其对作为检测对象晶体管的漏极节点与源极节点之间的电压进行检测，其中，所述检测对象晶体管为，低压侧的晶体管以及高电位侧的晶体管中的至少一方，所述控制电路在判断为检测电压未超过给定的比较电压的情况下，检测出故障。

技术领域

本发明涉及一种电路装置以及电子设备等。

背景技术

作为对电机的转矩进行控制的方法，已知有对H电桥电路的晶体管进行PWM控制的方法。在该方法中，重复进行增加H电桥电路的输出电流的充电期间、和减少H电桥电路的输出电流的衰减期间，并通过对这些期间的长度进行控制从而对电机的驱动电流进行控制。

在实施这种控制的情况下，为了从因过电流而造成的故障中保护电机与H电桥，而设置有故障检测电路。例如，在专利文献1中公开了一种如下的技术，即，通过在H电桥的电源侧设置第一检测电阻，在H电桥的接地侧设置第二检测电阻，并对第一检测电阻的两端的电压和第二检测电阻的两端的电压进行检测，从而对过电流进行检测。

在专利文献1中，将在检测电阻中有过电流流过的情况下该检测电阻的两端的电压的上升的情况作为故障而进行检测。但是，在产生了与检测电阻不同的其他的电流路径的情况下，则无法正确地检测出过电流。例如，当H电桥的晶体管的漏极与衬底之间被过电压破坏时，过电流的一部分将流至衬底，从而使检测电阻的电压上升变小。

如此，在对有过电流流过电阻时的电压上升进行检测的方法中，在晶体管被破坏的情况下，存在无法将因该破坏而流动的过电流作为故障而进行检测的课题。

专利文献1：日本特开2007-74794号公报

发明内容

根据本发明的几种方式，能够提供可以对因晶体管的破坏而产生的过电流进行检测的电路装置以及电子设备等。

本发明的一个方式涉及一种电路装置，包括：电桥电路，其具有高压侧的晶体管和低压侧的晶体管；故障检测电路，其对作为检测对象晶体管的漏极节点与源极节点之间的电压的检测电压是否超过给定的比较电压进行检测的电路，其中，所述检测对象晶体管为，所述低压侧的晶体管以及所述高压侧的晶体管中的至少一方；控制电路，其根据来自所述故障检测电路的检测结果，而在判断为在使所述电桥电路的输出电流增加的充电期间结束之前所述检测电压未超过所述给定的比较电压的情况下，检测故障。

根据本发明的一个方式，在充电期间结束之前，在作为检测对象晶体管的漏极节点与源极节点之间的电压的检测电压未超过给定的比较电压的情况下，检测出故障。由于可以预想到如果不存在故障则在充电期间结束之前检测电压将超过给定的比较电压，因此根据本发明的一个方式，能够对由晶体管的破坏造成的过电流进行检测。

另外，在本发明的一个方式中，可以采用如下方式，即，所述给定的比较电压为，根据所述充电期间结束时的所述电桥电路的输出电流亦即截断电流的设定值而变化的电压。

电桥电路例如驱动直流电机。在该情况下，通过变更截断电流的设定值从而能够对直流电机的转矩进行控制。在这种情况下，通过以与截断电流的设定值联动的方式设定给定的比较电压，从而能够设定根据截断电流的设定值而被预想的、应该达到的下限的电压。而且，能够判断为，在未达到该电压的情况下存在故障。

另外，在本发明的一个方式中，可以采用如下的方式，即，所述控制电路在经过了所监控的过去的所述充电期间或预先被设定的期间时，根据来自所述故障检测电路的所述检测结果而对所述检测电压是否超过所述给定的比较电压进行判断。

充电期间例如在检测出电桥电路的输出电流达到了截断电流的设定值时结束。但是，在存在故障的情况下，由于未达到截断电流的设定值，因此无法知晓充电期间的结束。因此，通过将经过了所监控的过去的充电期间或预先设定的期间时视为充电期间的结束，从而能够实施故障检测。