[发明专利]电路装置以及电子设备有效
| 申请号: | 201510077003.X | 申请日: | 2015-02-12 |
| 公开(公告)号: | CN104852644B | 公开(公告)日: | 2018-06-26 |
| 发明(设计)人: | 山田敦史 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号: | H02H7/08 | 分类号: | H02H7/08;H02P29/024;G01R31/40 |
| 代理公司: | 北京金信知识产权代理有限公司 11225 | 代理人: | 黄威;苏萌萌 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 晶体管 电路装置 电子设备 检测对象 控制电路 比较电压 电桥电路 检测电压 漏极节点 源极节点 高电位 检测 | ||
1.一种电路装置,其特征在于,包括:
电桥电路,其具有高压侧的晶体管和低压侧的晶体管;
检测电路,其对在检测电阻中流动的电流进行检测,所述检测电阻的一端与低压侧的晶体管的源极节点连接,另一端与第一节点连接;
故障检测电路,其通过对不经由所述检测电阻而流过作为检测对象晶体管的漏极节点与所述第一节点之间的电流进行测量,从而对作为所述检测对象晶体管的漏极节点与源极节点之间的电压的检测电压是否超过给定的比较电压进行检测,其中,所述检测对象晶体管为,所述低压侧的晶体管以及所述高压侧的晶体管中的至少一方;
控制电路,其根据来自所述故障检测电路的检测结果,而在判断为在使所述电桥电路的输出电流增加的充电期间结束之前所述检测电压未超过所述给定的比较电压的情况下,检测为故障。
2.如权利要求1所述的电路装置,其特征在于,
所述给定的比较电压为,根据所述充电期间结束时的所述电桥电路的输出电流亦即截断电流的设定值而变化的电压。
3.如权利要求1或2所述的电路装置,其特征在于,
所述控制电路在经过了所监控的过去的所述充电期间或预先被设定的期间时,根据来自所述故障检测电路的所述检测结果而对所述检测电压是否超过所述给定的比较电压进行判断。
4.如权利要求1或2所述的电路装置,其特征在于,
所述故障检测电路具有:
电流源电路;
电压输出用晶体管,其漏极被输入有来自所述电流源电路的电流,并且源极与所述检测对象晶体管的源极连接,
所述故障检测电路将所述电压输出用晶体管的漏极电压作为所述给定的比较电压而输出。
5.如权利要求4所述的电路装置,其特征在于,
来自所述电流源电路的电流根据所述充电期间结束时的所述电桥电路的输出电流的亦即截断电流的设定值而被设定。
6.如权利要求5所述的电路装置,其特征在于,
所述故障检测电路在将所述电压输出用晶体管与所述检测对象晶体管的尺寸比设为1/n的情况下,使来自所述电流源电路的电流被设定在所述截断电流的所述设定值的1/n以下,其中,n为2以上的自然数。
7.如权利要求4所述的电路装置,其特征在于,
所述故障检测电路具有比较器,所述比较器由第一耐压的晶体管构成,并对所述检测电压和所述给定的比较电压进行比较,
所述高压侧的晶体管以及所述低压侧的晶体管为,与所述第一耐压相比而较高的第二耐压的晶体管。
8.如权利要求7所述的电路装置,其特征在于,
所述故障检测电路具有开关电路,所述开关电路由所述第二耐压的晶体管构成,并被设置于所述检测对象晶体管的所述漏极节点与所述比较器的所述检测电压的输入端子之间,
所述开关电路在使所述电桥电路的所述输出电流减少的衰减期间内成为断开。
9.如权利要求1、2、5至8中任一项所述的电路装置,其特征在于,
所述控制电路对所述高压侧的晶体管以及所述低压侧的晶体管进行导通或断开控制,并在检测出所述故障的情况下,停止进行所述高压侧的晶体管以及所述低压侧的晶体管的所述导通或断开控制。
10.如权利要求1、2、5至8中任一项所述的电路装置,其特征在于,
包括检测电路,所述检测电路对在所述充电期间内流至所述电桥电路的电流是否达到截断电流的设定值进行检测,
所述控制电路在检测出流至所述电桥电路的电流达到了所述截断电流的设定值的情况下,从所述充电期间切换至使所述电桥电路的所述输出电流减少的衰减期间。
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