[发明专利]一种不同环境湿度下热像仪响应度漂移的测量装置和方法

说明书

技术领域

本发明涉及光学检测技术领域，特别是涉及一种不同环境湿度下热像仪响应度漂移的测量装置和方法。

背景技术

以下对本发明的相关技术背景进行说明，但这些说明并不一定构成本发明的现有技术。

红外热像仪的响应度是随着环境温度变化的，实验室环境下测量的结果往往需要用外场试验环境测量的数据进行修正。在很多情况下，红外测量设备的这种性能检测不能同时找到不同环境温度的外场情况，给试验结果带来偏差。因此需要通过实验室环境模拟装置模拟所有可能的地面野外环境下的温度，实现标定环境与外场测量环境一致，减少或消除环境温度的变化对测量结果的影响，满足辐射测量系统定标需求。国内外已经有专家做过热像仪响应度随环境温度变化的报导，然而，热像仪响应度随环境湿度是否变化的研究却非常少。

因此，现有技术中需要一种能够研究不同环境湿度下热像仪响应度是否发生变化的测量装置和方法的解决方案。

发明内容

本发明的目的在于提出一种能够能够研究不同环境湿度下热像仪响应度是否发生变化的技术方案。

根据本发明的一个方面，提出一种不同环境湿度下热像仪响应度漂移的测量装置。

根据本发明的不同环境湿度下热像仪响应度漂移的测量装置包括：底座、测量舱、舱门、温度湿度控制面板、黑体、黑板、观察窗以及手动操作孔，其中，底座固定地设置在测量舱的下方，用于固定测量舱，底座的上侧面位于测量舱的内部；测量舱为矩形框架，且固定地设置在底座的上侧面上；测量舱的前侧面设置有观察窗；测量舱前侧面的位于观察窗的下方设置有两个手动操作孔，每一个手动操作孔上设置有手套；温度湿度控制面板设置在测量舱的前侧面上；测量舱的左侧面和右侧面分别设置有舱门，热像仪通过舱门放入测量装置中；黑板放置在测量舱内，通过手动操作孔上的手套、利用黑板对热像仪进行非均匀校正；黑体固定地设置在底座上，并且位于测量舱的内部。

根据本发明的测量装置的一个优选的实施例，底座上设置有滑轨，热像仪能够在测量舱内部相对滑轨滑动。

根据本发明的测量装置的再一个优选的实施例，滑轨上设置有瞄准转台，瞄准转台的下端相对滑动地、且可拆卸地设置在滑轨上，瞄准转台的上端能够相对瞄准转台的下端在水平方向内进行转动；热像仪可拆卸地设置在瞄准转台的上端。

根据本发明的测量装置的又一个优选的实施例，滑轨上设置有操作平面，操作平面能够相对滑轨滑动，且操作平面与滑轨之间的垂直距离可以调节；瞄准转台相对转动地设置在操作平面上。

根据本发明的另一个方面，提出一种不同环境湿度下热像仪响应度漂移的测量方法。

根据本发明的不同环境湿度下热像仪响应度漂移的测量方法包括：S01.将被标定热像仪和黑体置于恒温环境下的测量舱中，打开测量装置预热；S02.用瞄准转台调整黑体在热像仪上的成像位置，使黑体的图像在热像仪镜头的中部；在滑轨上调节热像仪与黑体之间的距离，使得黑体在热像仪上的成像清晰；S03.在温度湿度控制面板上设定温度和湿度，将恒温环境下的测量舱的内部温度恒定在某一个温度值，调节测量舱的内部湿度为第一湿度值；预热至少一小时；S04.从手动操作孔伸进测量舱，用黑板挡住热像仪镜头进行非均匀校正，使得热像仪在测量前成像均匀；S05.分别将黑体的温度设置为不同的值，记录热像仪的响应度；测量不同黑体温度下热像仪响应度的过程中使用的积分时间相同；每次改变黑体温度后、进行热像仪响应度测量前，将测量设备预热至少一小时；S06.调节测量舱的内部湿度为第二湿度值，预热至少一小时；重复步骤S04-S05，记录热像仪的响应度；测量不同测量舱内部湿度下的热像仪响应度的过程中，使用的积分时间相同；S07.根据实际情况分别测定多个测量舱的内部湿度以及黑体温度下热像仪的响应度；根据测量舱内不同湿度以及不同黑体温度下的测量结果，计算不同环境湿度下热像仪的响应度标定曲线。

根据本发明的测量方法的一个优选的实施例，响应度包括灰度值和/或辐射亮度值。