[发明专利]一种不同环境湿度下热像仪响应度漂移的测量装置和方法

权利要求书

1.一种不同环境湿度下热像仪响应度漂移的测量装置，其特征在于包括底座、测量舱、舱门、温度湿度控制面板、黑体、黑板、观察窗以及手动操作孔，其中，

所述底座固定地设置在所述测量舱的下方，用于固定所述测量舱，所述底座的上侧面位于所述测量舱的内部；

所述测量舱为矩形框架，且固定地设置在所述底座的上侧面上；

所述测量舱的前侧面设置有所述观察窗；

所述测量舱前侧面的位于所述观察窗的下方设置有两个所述手动操作孔，每一个所述手动操作孔上设置有手套；

所述温度湿度控制面板设置在所述测量舱的前侧面上；

所述测量舱的左侧面和右侧面分别设置有所述舱门，热像仪通过所述舱门放入测量装置中；

所述黑板放置在所述测量舱内，通过所述手动操作孔上的手套、利用所述黑板对热像仪进行非均匀校正；

所述黑体固定地设置在所述底座上，并且位于所述测量舱的内部。

2.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，

所述底座上设置有滑轨，热像仪能够在所述测量舱内部相对所述滑轨滑动。

3.如权利要求2所述的测量装置，其特征在于，

所述滑轨上设置有瞄准转台，所述瞄准转台的下端相对滑动地、且可拆卸地设置在滑轨上，所述瞄准转台的上端能够相对所述瞄准转台的下端在水平方向内进行转动；

热像仪可拆卸地设置在所述瞄准转台的上端。

4.如权利要求3所述的测量装置，其特征在于，

所述滑轨上设置有操作平面，所述操作平面能够相对所述滑轨滑动，且所述操作平面与所述滑轨之间的垂直距离可以调节；

所述瞄准转台相对转动地设置在所述操作平面上。

5.一种利用权利要求3所述的测量装置来进行不同环境湿度下热像仪响应度漂移测量的方法，其特征在于包括：

S01.将被标定热像仪和黑体置于恒温环境下的测量舱中，打开测量装置预热；

S02.用瞄准转台调整黑体在热像仪上的成像位置，使黑体的图像在热像仪镜头的中部；在滑轨上调节热像仪与黑体之间的距离，使得黑体在热像仪上的成像清晰；

S03.在温度湿度控制面板上设定温度和湿度，将恒温环境下的测量舱的内部温度恒定在某一个温度值，调节测量舱的内部湿度为第一湿度值；预热至少一小时；

S04.从手动操作孔伸进测量舱，用黑板挡住热像仪镜头进行非均匀校正，使得热像仪在测量前成像均匀；

S05.分别将黑体的温度设置为不同的值，记录热像仪的响应度；测量不同黑体温度下热像仪响应度的过程中使用的积分时间相同；每次改变黑体温度后、进行热像仪响应度测量前，将测量设备预热至少一小时；

S06.调节测量舱的内部湿度为第二湿度值，预热至少一小时；重复步骤S04-S05，记录热像仪的响应度；测量不同测量舱内部湿度下的热像仪响应度的过程中，使用的积分时间相同；

S07.根据实际情况分别测定多个测量舱的内部湿度以及黑体温度下热像仪的响应度；根据测量舱内不同湿度以及不同黑体温度下的测量结果，计算不同环境湿度下热像仪的响应度标定曲线。

6.如权利要求5所述的测量方法，其特征在于，

所述响应度包括灰度值和/或辐射亮度值。