[发明专利]测试装置、校正器件、校正方法及测试方法在审

专利信息
申请号: 201510056916.3 申请日: 2015-02-03
公开(公告)号: CN104898037A 公开(公告)日: 2015-09-09
发明(设计)人: 増田伸;原英生;安高刚 申请(专利权)人: 爱德万测试株式会社
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 代理人: 江耀纯
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 测试 装置 校正 器件 方法
【权利要求书】:

1.一种测试装置,包括:

光测试信号产生部,产生光测试信号;

光信号供给部,将所述光测试信号供给至多个被测器件中的测试对象的被测器件;

第一光开关部,在所述多个被测器件所输出的光信号中选择由所述测试对象的被测器件输出的光信号;及

光信号接收部,接收所选择的所述光信号。

2.根据权利要求1所述的测试装置,其包括第二光开关部,所述第二光开关部切换将来自所述第一光开关的由所述测试对象的被测器件输出的光信号与所述光测试信号中的哪一个供给至所述测试对象的被测器件。

3.根据权利要求2所述的测试装置,其包括第三光开关部,所述第三光开关部切换将来自所述第一光开关的由所述测试对象的被测器件输出的光信号供给至所述光信号接收部与所述第二光开关部中的哪一个。

4.根据权利要求1所述的测试装置,其包括第一检测部,所述第一检测部分别检测由所述多个被测器件输出的光信号的光强度。

5.根据权利要求4所述的测试装置,其中所述第一检测部包含:

分支耦合器,对所输入的光信号进行分支;

第一光强度测定部,对所述分支耦合器分支后形成的一路的光信号的强度进行测定;

滤波部,使所述分支耦合器分支后形成的另一路的光信号中预先规定的波段的光信号通过;及

第二光强度测定部,对已通过所述滤波部的光信号的强度进行测定。

6.根据权利要求1所述的测试装置,其包括第二检测部,所述第二检测部检测从所述光信号供给部输出的光信号的光强度。

7.根据权利要求1所述的测试装置,其还包括光强度变更部,所述光强度变更部变更从所述光信号供给部输出的光信号的光强度。

8.根据权利要求1所述的测试装置,其中所述光信号供给部包含光开关,所述光开关在所述多个被测器件中选择所述测试对象的被测器件,并使由所述光测试信号产生部输出的光测试信号输入。

9.根据权利要求1至7中任一项所述的测试装置,其中所述光信号供给部包含光耦合器,所述光耦合器对由所述光测试信号产生部输出的光测试信号进行分支,并使其输入至所述测试对象的被测器件。

10.根据权利要求1所述的测试装置,其还包括:

电测试信号产生部,产生测试所述多个被测器件的电测试信号;

电接口部,将所述电测试信号分别供给至所述多个被测器件,并且接收由所述多个被测器件输出的电信号并分别输出;及

电信号接收部,接收所述电信号。

11.根据权利要求10所述的测试装置,其对被测器件进行测试,所述被测器件包括将光信号转换为电信号的多个光电转换部及将电信号转换为光信号的多个电光转换部,

所述第一光开关部接收由所述被测器件的一个或多个电光转换部根据由所述电测试信号产生部供给的电测试信号所输出的光信号,并将所接收到的所述光信号供给至所述光信号供给部;

所述光信号供给部将该光信号作为光测试信号供给至所述测试对象的被测器件。

12.一种校正器件,对权利要求10或11所述的测试装置进行校正,包括:

电信号传输部,经由所述电接口部接收从所述电测试信号产生部供给的电测试信号,并经由所述电接口部将该电测试信号传输给所述电信号接收部;及

光信号传输部,经由所述光信号供给部接收从所述光测试信号产生部供给的光测试信号,并经由所述第一光开关部将该光信号传输给所述光信号接收部。

13.一种校正方法,是通过权利要求12所述的校正器件校正所述测试装置的方法,包括:

电信号传输步骤,经由所述校正器件将从所述电测试信号产生部供给的电测试信号传输给所述电信号接收部;及

光信号传输步骤,经由所述校正器件将从所述光测试信号产生部供给的光测试信号传输给所述光信号接收部。

14.一种测试方法,包括:

光测试信号产生步骤,产生光测试信号;

光信号供给步骤,将所述光测试信号供给至多个被测器件中的测试对象的被测器件;

选择步骤,在由所述多个被测器件输出的光信号中选择由所述测试对象的被测器件输出的光信号;及

光接收步骤,接收所选择的所述光信号。

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