[发明专利]链路测试方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及计算机领域，具体来说，涉及一种链路测试方法及装置。

背景技术

在服务器系统的设计开发过程中，需要对高速互联网络进行测试，确保信号质量满足系统需求。

目前，测试的基本方法是使用测试工装子卡取代相应的节点，然后利用测试工装子卡的测试接口对系统高速链路的无源和有源特性进行测试。本领域中，测试工装子卡为：一种Line—Card结构的PCB，其可以提供备板高速链路的测试接口。

现有技术中对链路的测试方式请参照图1所示，采用以测试工装子卡代替相应的节点从而对链路AB，BC进行测试。但是该测试方案只能对设计完成的拓扑结构进行测试，当拓扑结构发生改变时，如图1中，如果拓扑结构需要实现节点A与C之间的互联并对AC测试，则该方案只能重新设计基板后进行测试，无法对潜在的互联拓扑变化进行评估，从而增加了互联方案设计的时间与成本。

针对相关技术中的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

针对相关技术中的问题，本发明提出一种链路测试方法及装置，能够实现在可变拓扑网络中进行测试，并不需要重新设计系统硬件来进行测试验证，大大节省了开发时间和成本。

本发明的技术方案是这样实现的：

根据本发明的一个方面，提供了一种链路测试方法。

该链路测试方法包括：

通过测试工装子卡对第一测试链路进行测试，得到第一测试数据；以及

通过测试工装子卡对第二测试链路进行测试，得到第二测试数据；

其中，第一测试链路及第二测试链路为具有公共节点但不连通的两条链路；

通过第一测试工装对连接器进行校验得到第一校验数据；

通过第二测试工装使第一测试链路及第二测试链路连通，并对第二测试工装进行自校验，得到第二校验数据；

根据第一测试数据、第二测试数据、第一校验数据、第二校验数据得到第一测试链路与第二测试链路互联的测试结果。

其中，根据第一测试数据、第二测试数据、第一校验数据、第二校验数据得到第一测试链路与第二测试链路互联的测试结果包括：

通过第一校验数据、第二校验数据对第一测试数据进行处理，得到第三测试数据；

通过第一校验数据、第二校验数据对第二测试数据进行处理，得到第四测试数据。

然后，通过级联算法对第三测试数据及第四测试数据进行处理，得到第一测试链路与第二测试链路互联的测试结果。

此外，第一测试工装采用在10GHz频点的损耗为小于等于0.65dB/inch的材料制成，且在传输线与过孔处的阻抗波动不超过±5％。

此外，第二测试工装采用在10GHz频点的损耗为小于等于0.65dB/inch的材料制成，且在传输线与过孔处的阻抗波动不超过±5％。

根据本发明的另一方面还提供了一种链路测试装置，该装置包括：

测试工装子卡、第一测试工装、第二测试工装；

其中，第一测试工装用于对连接器进行校验；以及

第二测试工装用于将具有公共节点但不连通的两条链路进行连通。

其中，第一测试工装采用在10GHz频点的损耗为小于等于0.65dB/inch的材料制成，且在传输线与过孔处的阻抗波动不超过±5％。

其中，第二测试工装采用在10GHz频点的损耗为小于等于0.65dB/inch的材料制成，且在传输线与过孔处的阻抗波动不超过±5％。

其中，第二测试工装具备自校验功能。

其中，第一测试工装、第二测试工装为使用印刷线路板PCB材料制成的PCB结构。

本发明通过使用第一测试工装及第二测试工装可以将两不相连的节点链路进行桥接，并且可以对测试器件自身进行自校验，从而在可变拓扑网络中实现更灵活的测试方法，无需额外重新设计系统硬件来进行测试，有效地节省了开发时间和成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是现有技术对链路进行测试的方法示意图；

图2是根据本发明实施例的第一测试工装结构的示意图；

图3是根据本发明实施例的第二测试工装结构的示意图；

图4是根据本发明实施例的链路测试方法的流程图。

具体实施方式