[发明专利]链路测试方法及装置有效
| 申请号： | 201510047674.1 | 申请日： | 2015-01-29 |
| 公开（公告）号： | CN104618185B | 公开（公告）日： | 2018-04-27 |
| 发明（设计）人： | 任雪玉;陈进;张迪;杨晓君;李婧;曾义和 | 申请（专利权）人： | 曙光云计算集团有限公司;曙光信息产业（北京）有限公司 |
| 主分类号： | H04L12/26 | 分类号： | H04L12/26 |
| 代理公司： | 北京德恒律治知识产权代理有限公司11409 | 代理人： | 章社杲,卢军峰 |
| 地址： | 100193 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试 方法 装置 | ||
1.一种链路测试方法，其特征在于，包括：
通过测试工装子卡对第一测试链路进行测试，得到第一测试数据；以及
通过测试工装子卡对第二测试链路进行测试，得到第二测试数据；
其中，所述第一测试链路及所述第二测试链路为具有公共节点但不连通的两条链路；
通过第一测试工装对连接器进行校验得到第一校验数据；
通过第二测试工装使所述第一测试链路及所述第二测试链路连通，并对所述第二测试工装进行自校验，得到第二校验数据；
根据所述第一测试数据、所述第二测试数据、所述第一校验数据、所述第二校验数据得到所述第一测试链路与所述第二测试链路互联的测试结果。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一测试数据、所述第二测试数据、所述第一校验数据、所述第二校验数据得到所述第一测试链路与所述第二测试链路互联的测试结果包括：
通过所述第一校验数据、所述第二校验数据对所述第一测试数据进行处理，得到第三测试数据；
通过所述第一校验数据、所述第二校验数据对所述第二测试数据进行处理，得到第四测试数据。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，通过级联算法对所述第三测试数据及所述第四测试数据进行处理，得到所述第一测试链路与所述第二测试链路互联的测试结果。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一测试工装采用在10GHz频点的损耗为小于等于0.65dB/inch的材料制成，且在传输线与过孔处的阻抗波动不超过±5％。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二测试工装采用在10GHz频点的损耗为小于等于0.65dB/inch的材料制成，且在传输线与过孔处的阻抗波动不超过±5％。
6.一种链路测试装置，其特征在于，包括：
测试工装子卡、第一测试工装、第二测试工装；
其中，所述第一测试工装用于对连接器进行校验；以及
所述第二测试工装用于将具有公共节点但不连通的两条链路进行连通；
其中，通过所述测试工装子卡对第一测试链路进行测试，得到第一测试数据；以及
通过所述测试工装子卡对第二测试链路进行测试，得到第二测试数据；
通过所述第一测试工装对所述连接器进行校验得到第一校验数据；
通过所述第二测试工装使所述第一测试链路及所述第二测试链路连通，并对所述第二测试工装进行自校验，得到第二校验数据；
根据所述第一测试数据、所述第二测试数据、所述第一校验数据、所述第二校验数据得到所述第一测试链路与所述第二测试链路互联的测试结果。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述第一测试工装采用在10GHz频点的损耗为小于等于0.65dB/inch的材料制成，且在传输线与过孔处的阻抗波动不超过±5％。
8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述第二测试工装采用在10GHz频点的损耗为小于等于0.65dB/inch的材料制成，且在传输线与过孔处的阻抗波动不超过±5％。
9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述第二测试工装具备自校验功能。
10.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述第一测试工装、所述第二测试工装为使用印刷线路板PCB材料制成的PCB结构。
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