[发明专利]制造半导体器件的方法

说明书

相关申请交叉引用

通过引用将2014年1月29日提交的日本专利申请No.2014-014508的包括说明书，附图以及摘要的公开内容整体并入本文。

技术领域

本发明涉及一种制造半导体器件的方法，并且特别涉及一种应用于包括碳化硅半导体衬底的半导体器件的有效技术。

背景技术

因为碳化硅(SiC)比硅(Si)具有更大的带隙和近似大一位的击穿场，因此其有希望作为功率器件中采用的材料。

作为将要形成在碳化硅衬底上方的器件结构，与具有平面结构的MOSFET相比，能够对具有沟槽栅结构的MOSFET(金属氧化物半导体场效应晶体管)进行微制造并且能够具有低导通电阻。因此，希望进行实际应用。众所周知，为了形成用于MOSFET的栅绝缘膜，热氧化半导体衬底以形成用作栅绝缘膜的热氧化膜。

专利文献1(日本未审专利申请公开No.2005-116893)教导了通过在绝缘膜借助热氧化而形成在碳化硅半导体衬底上之后，在伴随有氮化的气体气氛中执行热处理，来改善包括场效应晶体管的栅绝缘膜的绝缘膜和碳化硅半导体衬底之间的边界的界面的质量。

[现有技术文献]

[专利文献]

[专利文献1]

日本未审专利申请公开No.2005-116893

发明内容

与包括Si(硅)半导体衬底的半导体器件相比，碳化硅(SiC)半导体衬底上方的场效应晶体管具有的问题在于电子的迁移率由于栅绝缘膜的高界面态密度而降低。为了解决这个问题，众所周知的是通过优化形成栅氧化膜的步骤以及气体退火条件来降低界面态密度的技术。

更具体地，气体退火条件的优化是在伴随有氮化的气体气氛中退火将变成栅绝缘膜的绝缘膜。即，在形成将要变成栅绝缘膜的氧化膜时的退火或在氧化膜形成之后的退火在气体(例如N₂O(一氧化二氮)气体)气氛中执行使得氮进入氧化膜。由此，可降低栅绝缘膜和半导体衬底之间界面处的界面态密度。

但是，当在伴随有氮化的气体气氛中退火该栅绝缘膜时，会发生CV滞后，由此降低半导体器件的可靠性。

当通过热氧化方法形成具有沟槽栅结构的MOSFET的栅绝缘膜时，因为热氧化膜取决于半导体衬底的面取向而形成，因此将要形成在沟槽的内部侧壁上方的热氧化膜与将要形成在半导体衬底的主表面上方的热氧化膜相比具有较低的薄膜成形性。

说明书和附图的说明将使其他目的和新颖特征变得显而易见。

以下给出本说明书中公开的实施例中的一个典型实施例的简要说明。

一种制造根据本发明的一个实施例的半导体器件的方法，包括以下步骤：

对形成在碳化硅衬底上方的绝缘膜执行伴随有氮化的热处理；

在惰性气体气氛中加热绝缘膜；以及

在碳化硅衬底上方形成具有作为栅绝缘膜的绝缘膜的场效应晶体管。

根据本说明书中公开的一个实施例，能够改善半导体器件的可靠性。特别地，能够降低MOSFET中的栅绝缘膜的界面态密度并且能够防止CV滞后的发生。

附图说明

图1示出根据本发明第一实施例的半导体器件的制造工艺流程；

图2是根据本发明的第一实施例的制造半导体器件的方法的截面图；

图3是续接图2示出制造半导体器件的方法的截面图；

图4是续接图3示出制造半导体器件的方法的截面图；

图5是续接图4示出制造半导体器件的方法的截面图；

图6是续接图5示出制造半导体器件的方法的截面图；

图7是示出根据本发明的第一实施例的MOSFET的电容和栅电压之间关系的曲线图；

图8是示出根据本发明的第一实施例的MOSFET的电容和栅电压之间关系的曲线图；

图9是用于比较比较实例的半导体器件中的滞后量以及本实施例的半导体器件中的滞后量的曲线图；

图10是示出氮浓度以及距离栅绝缘膜的顶表面的深度之间关系的曲线图；

图11是示出氢浓度以及距离栅绝缘膜的顶表面的深度之间关系的曲线图；

图12示出根据本发明的第一实施例的制造半导体器件的方法的一个变型例中的制造工艺流程；

图13是用于说明根据本发明的第一实施例的制造半导体器件的方法的一个变型例中的制造工艺流程的截面图；

图14示出根据本发明的第二实施例的半导体器件的制造工艺流程；

图15是示出根据本发明的第二实施例的制造半导体器件的方法的截面图；