[发明专利]半导体器件及其操作方法

权利要求书

1.一种半导体器件，包括：

第一电路和第二电路，被设置成彼此分开，

其中，所述第一电路包括：

计数单元，适于产生具有比特的计数码，所述计数码的每个比特循环地变化，其中，所述计数码包括具有预设频率的采样信号的触发次数，表示所述采样信号在所述第一电路和所述第二电路之间的单个往返的距离；以及

脉冲发生单元，适于根据表示所述距离的所述计数码来产生测量脉冲，其中，所述脉冲发生单元根据所述距离来确定所述测量脉冲的脉冲宽度。

2.如权利要求1所述的半导体器件，其中，所述第一电路还包括：操作信号发生单元，适于在所述测量脉冲的下降沿产生操作信号并且将所述操作信号传送至所述第一电路，以及在所述测量脉冲的上升沿产生所述操作信号并且将所述操作信号传送至所述第二电路。

3.如权利要求2所述的半导体器件，其中，所述脉冲发生单元包括：

操作控制部，适于产生操作控制信号，所述操作控制信号在所述采样信号在所述第一电路和所述第二电路之间的单个往返期间被激活；

计算部，适于响应于所述操作控制信号的去激活来产生距离码，所述距离码具有与所述计数码的值的一半相对应的值；

采样部，适于通过在所述计数码中的除了最高有效比特之外的比特的每一个周期对所述计数码中的除了所述最高有效比特之外的比特的第一单位脉冲采样来产生多个采样脉冲；

脉冲选择部，适于根据所述距离码来选择所述多个采样脉冲之中的一个或更多个；以及

脉冲组合部，适于产生所述测量脉冲，所述测量脉冲具有与通过所述脉冲选择部选中的所述采样脉冲的激活时段的总和相对应的激活时段。

4.如权利要求3所述的半导体器件，其中，所述计算部包括：移位部分，适于通过将所述计数码中的除了最低有效比特之外的每个比特沿朝向更低有效电平的位置的方向移位来产生所述距离码。

5.如权利要求4所述的半导体器件，其中，所述脉冲选择部选择所述多个采样脉冲之中的与所述距离码的值相对应的一个或更多个。

6.一种用于操作半导体器件的方法，所述半导体器件包括设置成彼此分开的第一电路和第二电路，所述方法包括：

在所述第一电路中，产生以预设频率触发的采样信号并且将所述采样信号输出至所述第二电路，以及接收从所述第二电路返回的所述采样信号；

在所述第一电路中，产生计数码，所述计数码的每个比特循环地变化，其中，所述计数码包括所述采样信号的触发次数，表示所述采样信号在所述第一电路和所述第二电路之间的单个往返的距离；以及

在所述第一电路中，根据表示所述距离的所述计数码来产生测量脉冲，其中，所述测量脉冲的产生根据所述距离来确定所述测量脉冲的脉冲宽度。

7.如权利要求6所述的方法，还包括：

在所述第一电路中，在所述测量脉冲的下降沿产生操作信号并且将所述操作信号传送至所述第一电路，以及在所述测量脉冲的上升沿产生所述操作信号并且将所述操作信号传送至所述第二电路。

8.如权利要求7所述的方法，其中，所述测量脉冲的产生包括：

在所述第一电路中，产生在所述采样信号在所述第一电路和所述第二电路之间的单个往返期间被激活的操作控制信号；

在所述第一电路中，响应于所述操作控制信号的去激活来产生距离码，所述距离码具有与所述计数码的值的一半相对应的值；

在所述第一电路中，通过在所述计数码中的除了最高有效比特之外的比特的每一个周期对所述计数码中的除了所述最高有效比特之外的比特的第一单位脉冲采样来产生多个采样脉冲；

在所述第一电路中，根据所述距离码来选择所述多个采样脉冲之中的一个或更多个；以及

在所述第一电路中，产生所述测量脉冲，所述测量脉冲具有与通过选择而选中的所述采样脉冲的激活时段的总和相对应的激活时段。