[发明专利]一种透镜热变形对光学系统成像结果影响的分析方法有效
| 申请号: | 201510002637.9 | 申请日: | 2015-01-05 |
| 公开(公告)号: | CN104537182B | 公开(公告)日: | 2017-11-24 |
| 发明(设计)人: | 程依光;刘俊伯;胡松;赵立新 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
| 主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 610209 *** | 国省代码: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 透镜 变形 光学系统 成像 结果 影响 分析 方法 | ||
技术领域
本发明适用于分析热环境发生变化的情况下,分析透镜形变量对光学系统成像质量的影响,属于光学、机械和热学交叉设计领域。具体涉及一种透镜热变形对光学系统成像结果影响的分析方法。
背景技术
现在的光学系统应用环境越来越复杂,特别是热环境会发生显著变化。比如在深空科学探测系统中,光学系统必须工作在极低温环境;星载系统在背光面和正光面温差极大,光学系统都要正常工作;精密干涉仪由于热效应对镜子产生影响,使镜子发生热弹性变形,会对探测精度产生影响等。为此必须分析透镜在复杂环境下的热变形,并且得到热变形对成像结果的影响。
本发明采用有限元分析软件和光学设计软件联合仿真,有限元分析软件得到透镜节点热变形数据,将透镜热变形面型通过泽尼克多项式拟合得到泽尼克多项式系数,将泽尼克多项式系数输入到光学分析软件作为透镜的面型变化量,进而得到成像结果。
发明内容
本发明的目的在于:通过有限元分析软件(比如ANSYS)获得透镜组在热环境改变时的节点变形量。将节点变形量转换为光学设计软件(如Zemax)能够识别的矢高变形量。光学分析软件通过泽尼克多项式来表征透镜的面型,所以还要讲透镜节点的矢高变形量转换为泽尼克多项式。将变形量进行泽尼克多项式拟合,得到最小二乘意义下的泽尼克多项式系数。本发明通过Householder变换将泽尼克矩阵正交三角化,能够避免拟合过程的超定方程组出现严重病态引起的计算误差,并且易于编程实现。将计算的泽尼克多项式系数输入到光学分析软件(如Zemax)中,这样就可以得到透镜组变形后的成像结果。
本发明采用的技术方案为:一种透镜热变形对光学系统成像结果影响的分析方法,所述方法包括以下步骤:
步骤S1:根据热载荷和透镜的有限元模型,通过工程分析软件(如ANSYS)进行热力学分析,导出透镜节点的热变形数据;
步骤S2:将有限元的变形结果经过处理,得到适合光学设计软件(如Zemax)的透镜矢高变形量;
步骤S3:将变形量进行泽尼克多项式拟合,得到最小二乘意义下的泽尼克多项式系数;
步骤S4:将拟合得到的泽尼克多项式系数输入到光学分析软件(如Zemax)中,分析成像结果。
进一步的,所述的将有限元的变形结果经过处理,得到透镜矢高变形量,包括以下步骤:
步骤S1:提取透镜某一节点P,坐标为(x,y,z),变形量为(dx,dy,dz);
步骤S2:根据透镜结构参数写出透镜的矢高方程z为矢高,c是面型曲率半径的倒数;
步骤S3:矢高变形量为
进一步的,所述的将变形量进行泽尼克多项式拟合,包括以下步骤:
步骤S1:假定面型共有M个节点,将节点的矢高变形量组成变形矩阵W,W是M行1列的矩阵,W中第i个元素W(i)即为每个节点的矢高变形量;
步骤S2:列出1到n阶泽尼克多项式Z1,Z2…Zn,对每个节点求出具体值,组成泽尼克矩阵A,A为M行n列的矩阵,矩阵A中的元素A(i,j)是第i个节点第j阶泽尼克多项式的值;
步骤S3:将矩阵A进行Householder变换,得到正交三角化的矩阵A,结果为H是Householder变换矩阵,R是n阶上三角矩阵,O是(M-n)行n列的零矩阵,C是n维向量,D是(M-n)维向量;
步骤S4:求取泽尼克系数矩阵q,q=C*R-1。
进一步的,所述的求取矩阵A的Householder矩阵H,包括以下步骤:
步骤S1:r=min{M-1,n},其中M是面型节点个数,n是最大的泽尼克多项式阶数,对k=1,2,…,r执行步骤S2到步骤S10;
步骤S2:计算其中M是面型节点个数,A(i,k)为矩阵A的元素,η为中间变量;
步骤S3:如果η=0则,令A(m+1,k)=0,k=k+1,回到步骤S2;
步骤S4:对i=k,k+1,…,M,令其中u为中间矩阵;
步骤S5:令其中sign是符号函数,σ为中间变量;
步骤S6:令u(k,k)=u(k,k)+σ;
步骤S7:令A(m+1,k)=ρ=σu(k,k),ρ为中间变量;
步骤S8:令A(m+2,k)=-ση;
步骤S9:对j=k+1,k+2,…,n,令
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