[发明专利]用于检查工件组件的相互位置的系统和方法以及使用这样的系统和方法的设备

权利要求书

1.一种检查系统(1，1')，其用于检查工件的第二组件(30)相对于工件的第一组件(29)的相互位置，所述第一组件(29)用于接收所述第二组件(30)的至少部分且适于限定轴线(E)，所述检查系统(1，1')包括：

-参考系统(3)，其适于限定参考平面和垂直于该参考平面的主轴线(H)，以及定位所述工件的所述第一组件使得所述第一组件(29)的所述轴线(E)对准所述主轴线(H)；

-检测系统，其适于限定彼此间隔开的至少一个第一检查区域和一个第二检查区域，并且在所述至少第一和第二检查区域处检测指示所述工件的所述第二组件(30)相对于所述工件的所述第一组件(29)的所述相互位置的数量；以及

-处理单元(50)，其连接到检测系统，适于接收和处理所述数量以便实时找出有关所述相互位置的信息；

其特征在于所述检测系统包括适于限定所述第一检查区域的至少一个第一检测装置，以及适于限定所述第二检查区域的一个第二检测装置，所述至少一个第一检测装置和所述第二检测装置预期同时操作，每一个检测装置在相应的检查区域上，并与所述工件的所述第二组件(30)和所述检查系统(1，1')的特定组件(8，16)二者其中之一配合，所述特定组件(8，16)适于联接到所述第二组件(30)。

2.根据权利要求1所述的检查系统(1，1')，其中所述参考系统(3)包括适于与所述工件的所述第二组件(30)接触的联接元件(17)，并且所述特定组件组成在浮动元件(8)，其连接到所述联接元件(17)，可相对于参考平面移动并且能够采取与所述第二组件(30)位置密切相关于的位置，所述浮动元件(8)的尺寸围绕正交于所述主轴线(H)的方向延伸，所述至少一个第一检测装置和所述第二检测装置预期与所述浮动元件(8)配合。

3.根据权利要求1或权利要求2所述的检查系统(1，1')，其中所述第一检测装置和所述第二检测装置放置成与所述主轴线(H)相距相等的距离。

4.根据权利要求2所述的检查系统(1)，其中所述第一检测装置和所述第二检测装置是光电子阴影投射型的，每个检测装置适于限定包括所述第一检查区域和所述第二检查区域之一的光学检查平面。

5.根据权利要求4所述的检查系统(1)，其中所述浮动元件(8)包括两个会聚的平面表面(81，82)和一个检查表面(84)，所述两个会聚的平面表面(81，82)适于限定通过所述主轴线(H)并垂直于所述两个光学检查平面的平面上的边缘(83)，所述检查表面(84)与所述边缘(83)相对且包括两个纵向边界(86，87)，所述检查表面(84)具有如此的取向以允许基本上仅仅一个的纵向边界(86)与所述第一检测装置和所述第二检测装置配合。

6.根据权利要求1到3任一项所述的检查系统(1')，包括设有检查表面(65)的搁置元件(16)，所述特定组件组成在所述搁置元件(16)，以及所述检测系统包括适于限定第三检查区域的至少一个第三检测装置，所述第一、第二和第三检测装置中的每一个包括具有探头(71)的接触传感器(7)，每个探头(71)适于在所述第一检查区域、所述第二检查区域和第三检查区域之一处与所述搁置元件(16)的所述检查表面(65)配合。

7.用于检查工件的第二组件(30)相对于工件的第一组件(29)的相互位置的方法，所述第一组件(29)用于接收所述第二组件(30)的至少部分且适于限定轴线(E)，所述方法包括以下步骤：

-将所述工件的所述第一组件(29)定位到参考系统(3)，所述参考系统(3)适于限定参考平面和垂直于该参考平面的主轴线(H)，使得所述第一组件(29)的所述轴线(E)对准所述主轴线(H)；

-限定彼此间隔开的至少一个第一检查区域和一个第二检查区域；

-在所述至少一个第一检查区域和所述第二检查区域处检测指示所述相互位置的数量；以及

-处理这样的数量以便实时找出有关所述相互位置的信息；

所述方法的特征在于在所述第一检查区域和所述第二检查区域处同时检测指示所述工件的所述第二组件(30)相对于所述工件的所述第一组件(29)的所述相互位置的数量。