[发明专利]半导体接合用粘接片及半导体装置的制造方法在审
| 申请号: | 201480059393.1 | 申请日: | 2014-10-28 |
| 公开(公告)号: | CN105683319A | 公开(公告)日: | 2016-06-15 |
| 发明(设计)人: | 根津裕介;加太章生 | 申请(专利权)人: | 琳得科株式会社 |
| 主分类号: | C09J7/02 | 分类号: | C09J7/02;B32B27/00;C09J201/00;H01L21/304 |
| 代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 谢顺星;张晶 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 半导体 接合 用粘接片 装置 制造 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种特别适用于将硅晶圆等晶割、且将所获得的半导体 芯片粘接(黏晶)于有机基板或引线框架或其他半导体芯片的工序中使用 的半导体接合用粘接片及使用该粘接片的半导体装置的制备方法。
背景技术
硅、镓砷等半导体晶圆以大直径状态制造,该晶圆在被切断分离(晶 割)成元件小片(半导体芯片)后,被移往下一工序的粘晶工序。此时,半 导体晶圆会因背面研削工序而被薄化,然后,经由晶割、洗净、干燥、 扩展、拾取等各项工序后,再被移送往下一工序的焊接工序。
焊接工序中,当将半导体芯片安装于印刷电路板时,有采用在半导 体芯片的电路面侧的耦接焊垫部上形成由共晶焊料、高温焊料、金等构 成的导通用突起物(凸块电极),再利用所谓“倒置方式(face-down)”, 使这些凸块电极面对面接触于芯片搭载用基板上相对应的端子部,并熔 融/扩散接合的覆晶安装方法。此种安装方法若使用近年普及的通称“裸 芯片附着膜(DieAttachmentFilm)”,将粘贴于晶圆状态的晶圆实施单片化 而获得芯片,在粘晶时使用供将芯片与芯片搭载用基板予以粘接用的粘 接膜,相较于使用其他形态的填底胶材的下较为简便。
作为上述用途所使用的层叠片,在专利文献1中所公开的层叠片, 其中,具有在基材上形成粘着剂层的构成的背面研磨胶带、以及设置在 上述背面研磨胶带的上述粘着剂层上的树脂组合物层,上述粘着剂层为 放射线固化型粘着剂层。专利文献1的层叠片中,树脂组合物层具有上 述粘接膜的功能。
然而,专利文献1的层叠片,无法将凸块电极充分埋藏于该层叠片 中,若实施晶圆的背面研削,便会导致研削面出现凹洞(凹点)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本专利特开2013-123002号公报
发明内容
本发明要解决的技术问题
因此,本发明目的在于提供一种半导体接合用粘接片,其可埋藏凸 块电极等突起状电极,其结果,背面研削性优异。此外,本发明目的在 于提供一种半导体接合用粘接片,其在粘着剂层与粘接膜(粘接剂层)的界 面处的剥离性优异。
解决技术问题的技术手段
解决上述技术问题的本发明,包含有以下主旨。
[1]一种半导体接合用粘接片,其由基材、凹凸吸收层、粘着剂层、 及粘接剂层依次层叠而成,其中,
粘着剂层由能量线固化型粘着剂组合物的固化物构成,
粘接剂层可剥离地形成于粘着剂层上。
[2]如[1]所述的半导体接合用粘接片,其中,70℃下的凹凸吸收层的 tanδ为0.5以上。
[3]如[1]或[2]所述的半导体接合用粘接片,其中,该粘接片粘贴于表 面形成有突起状电极的半导体晶圆的表面,
粘接剂层的厚度比突起状电极的高度小。
[4]如[1]~[3]中任一项所述的半导体接合用粘接片,其中,凹凸吸收 层由含胺酯聚合物的固化性组合物的固化物、或乙烯-α-烯烃共聚物构成。
[5]一种半导体装置的制造方法,其为使用上述[1]~[4]中任一项所述 的半导体接合用粘接片的半导体装置的制造方法,其包括:
在晶圆上粘贴半导体接合用粘接片的粘接剂层的工序,以及对晶圆 背面实施研削的工序。
发明效果
本发明的半导体接合用粘接片可适用于覆晶安装方法,能将在半导 体晶圆表面上形成的电路的凹凸(例如突起状电极)埋藏于该粘接片中。因 此,可良好地实施半导体晶圆的背面研削。此外,本发明的半导体接合 用粘接片的粘着剂层与粘接剂层的界面处的剥离性优异。
附图说明
图1为表示本发明第1构成的半导体接合用粘接片的图;
图2为表示本发明第2构成的半导体接合用粘接片的图。
具体实施方式
以下,针对本发明的半导体接合用粘接片更进一步进行具体说明。 如图1及图2所示,本发明的半导体接合用粘接片10由基材1、凹凸吸 收层2、粘着剂层3、及粘接剂层4依次层叠而成。
(基材)
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