[发明专利]内窥镜装置有效
申请号: | 201480038471.X | 申请日: | 2014-05-16 |
公开(公告)号: | CN105358040B | 公开(公告)日: | 2018-01-02 |
发明(设计)人: | 膳健一 | 申请(专利权)人: | 奥林巴斯株式会社 |
主分类号: | A61B1/00 | 分类号: | A61B1/00;A61B1/04;G02B23/24 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277 | 代理人: | 刘新宇,张会华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 内窥镜 装置 | ||
1.一种内窥镜装置,其特征在于,具备:
第一光学系统,其设置于被插入到被检体内的内窥镜的插入部,用于对所述被检体内进行观察;
第二光学系统,其设置于所述插入部,用于与所述第一光学系统具有视差地对所述被检体内进行观察;
遮光快门,其在遮断所述第一光学系统的第一光路的第一位置与遮断所述第二光学系统的第二光路的第二位置之间转动自如,并且在该遮光快门的至少一部分设置有磁性体或者该遮光快门的至少一部分由磁性体构成;
磁体转子,其固定于所述遮光快门的转动轴;
驱动线圈,其通过被施加直流电流来对所述磁体转子施加磁力,由此使所述遮光快门从所述第一位置向所述第二位置转动或者从所述第二位置向所述第一位置转动;
检测线圈,其设置于所述磁性体随着所述遮光快门的转动而转动的转动区域,并被施加交流电流;
摄像元件,通过所述遮光快门在该摄像元件的整个受光面上使通过所述第一光学系统观察到的所述被检体的观察部位的第一像和通过所述第二光学系统观察到的所述观察部位的与所述第一像具有视差的第二像以具有时间差的方式单独地成像;以及
控制部,其设置于所述内窥镜内或者连接该内窥镜的装置主体内,根据在所述摄像元件的所述受光面上成像的所述第一像和所述第二像来进行所述观察部位的测量,
其中,所述控制部进行对所述驱动线圈施加所述直流电流的施加控制和对所述检测线圈施加所述交流电流的施加控制,并且在对所述检测线圈施加了所述交流电流的情况下,根据所述交流电流的值来检测所述检测线圈的在中空部产生的磁场被所述磁性体遮断时的电感的变化,由此检测所述遮光快门的转动位置。
2.根据权利要求1所述的内窥镜装置,其特征在于,
所述控制部在对所述检测线圈施加所述交流电流的期间内即使对所述驱动线圈施加所述直流电流也检测不出所述电感的变化时,检测出所述遮光快门处于非移动状态,并进行以下控制:发出通过所述摄像元件得到的所述观察部位的测量值不准确的警告。
3.根据权利要求1或2所述的内窥镜装置,其特征在于,
还具备通过所述控制部的驱动控制来对所述驱动线圈施加所述直流电流的直流电源和通过所述控制部的驱动控制来对所述检测线圈施加所述交流电流的交流电源,
所述直流电源、所述交流电源、所述驱动线圈以及所述检测线圈串联连接,
所述控制部进行以下控制:将所述直流电流和所述交流电流叠加地施加于所述驱动线圈和所述检测线圈。
4.根据权利要求1或2所述的内窥镜装置,其特征在于,
所述检测线圈相对于所述驱动线圈设置为:由所述检测线圈的所述中空部生成的磁场的方向与由所述驱动线圈的中空部生成的磁场的方向正交。
5.根据权利要求1或2所述的内窥镜装置,其特征在于,
所述检测线圈包括两个检测线圈,一个检测线圈的所述中空部被所述磁性体在所述第一位置处遮断,另一个检测线圈的所述中空部被所述磁性体在所述第二位置处遮断。
6.根据权利要求5所述的内窥镜装置,其特征在于,
所述一个检测线圈形成为线圈线材的匝数比所述另一个检测线圈的线圈线材的匝数多,
所述控制部通过检测随着所述遮光快门的转动而所述磁性体在所述第一位置和所述第二位置处将各所述检测线圈的中空部的所述磁场遮断所产生的所述电感的基于所述匝数的差异的差,来检测所述遮光快门从所述第一位置移动到了所述第二位置或者从所述第二位置移动到了所述第一位置,
所述控制部通过检测随着所述遮光快门的转动而所述磁性体将各所述检测线圈的所述中空部的所述磁场释放所产生的所述电感的减少,来检测所述遮光快门位于所述第一位置与所述第二位置之间。
7.根据权利要求5所述的内窥镜装置,其特征在于,
所述磁性体形成为以下尺寸:在所述遮光快门移动到所述第一位置时,所述磁性体将所述一个检测线圈的所述中空部的所述磁场遮断并且将所述另一个检测线圈的所述中空部的所述磁场释放,在所述遮光快门移动到所述第二位置时,所述磁性体将所述另一个检测线圈的所述中空部的所述磁场遮断并且将所述一个检测线圈的所述中空部的所述磁场释放。
8.根据权利要求1或2所述的内窥镜装置,其特征在于,
所述检测线圈包括一个检测线圈。
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