[发明专利]校准装置

权利要求书

1.一种供在测试系统的校准中使用的设备，所述测试系统包括多个通道和用于接纳受测装置的插槽，所述设备包括：

装置接口，所述装置接口可连接到所述插槽；以及

多个电路通道，每个电路通道可通过所述装置接口连接到所述测试系统的对应通道并且连接到共用节点；

其中所述设备被配置为使得在校准期间，信号要么(i)各自从所述测试系统通过所述多个电路通道中的一个电路通道传递，并且通过所述多个电路通道中的其他电路通道回到所述测试系统，要么(ii)各自从所述测试系统通过所述多个电路通道中的所述其他电路通道传递，并且通过所述多个电路通道中的所述一个电路通道回到所述测试系统。

2.根据权利要求1所述的设备，其中所述多个电路通道中的所述其他电路通道包括除了所述多个电路通道中的所述一个电路通道之外的、所有多个电路通道。

3.根据权利要求1所述的设备，其中在信号各自从所述测试系统通过所述多个电路通道中的一个电路通道传递的情况下：后续信号通过所述多个电路通道中的不同电路通道传递回到所述测试系统。

4.根据权利要求1所述的设备，其中在信号各自从所述测试系统通过所述多个电路通道中的所述其他电路通道传递的情况下：后续信号穿过所述多个电路通道中的所述其他电路通道中的不同电路通道传递。

5.根据权利要求1所述的设备，其中所述多个电路通道中的每个电路通道包括电路迹线。

6.根据权利要求1所述的设备，其中所述多个电路通道中的每个电路通道包括阻抗元件。

7.根据权利要求6所述的设备，其中所述阻抗元件包括电阻器，所述电阻器作为包括所述共用节点的电阻分压器网络的一部分。

8.根据权利要求6所述的设备，其中阻抗元件连同接收通道的驱动器阻抗和负载阻抗的组合构成匹配阻抗网络。

9.根据权利要求1所述的设备，其中所述设备具有与所述受测装置的封装尺寸相同的封装尺寸。

10.根据权利要求1所述的设备，其中校准包括通过使用所述测试系统中的引脚电子器件改变时序来对准通道的时序。

11.一种测试系统，包括：

通道，所述通道用于向受测装置DUT发送信号以及从DUT接收信号；

每个通道包括引脚电子器件以向所述DUT发送测试信号并且从所述DUT接收响应信号，每个通道包括至少一个可变延迟元件以调整对应通道的时序；

插槽，所述插槽用于将所述通道接合到所述DUT；以及

校准装置，所述校准装置连接在所述插槽中代替所述DUT，所述校准装置用于校准所述测试系统，所述校准装置包括：

装置接口，所述装置接口可连接到所述插槽；以及

多个电路通道，每个电路通道可通过所述装置接口连接到所述测试系统的对应通道并且连接到共用节点；

其中所述测试系统被配置为使得在校准期间，信号要么(i)各自从所述测试系统通过所述多个电路通道中的一个电路通道传递，并且通过所述多个电路通道中的其他电路通道回到所述测试系统，要么(ii)各自从所述测试系统通过所述多个电路通道中的所述其他电路通道传递，并且通过所述多个电路通道中的所述一个电路通道回到所述测试系统。

12.根据权利要求11所述的测试系统，其中所述多个电路通道中的所述其他电路通道包括除了所述多个电路通道中的所述一个电路通道之外的、所有多个电路通道。

13.根据权利要求11所述的测试系统，其中每个通道的所述引脚电子器件包括引脚驱动器和比较器电路，所述引脚驱动器用于输出所述测试信号，所述比较器电路用于接收所述测试信号。