[发明专利]制造光吸收层的方法有效

专利信息
申请号: 201480024133.0 申请日: 2014-05-07
公开(公告)号: CN105164820B 公开(公告)日: 2017-10-13
发明(设计)人: 金珍赫;金譓俐;安成宰;金镇雄 申请(专利权)人: SK新技术株式会社
主分类号: H01L31/0749 分类号: H01L31/0749;H01L31/18
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司11227 代理人: 蔡胜有,苏虹
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 制造 光吸收 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及制造太阳能电池的光吸收层的方法。

背景技术

太阳能电池是生态友好的替代能源,是使用由吸收的光子产生的电子和空穴将光能转化成电能的装置。详细而言,太阳能电池具有p-n结结构,其中正(P)型半导体与负(N)型半导体连接,从而当接收太阳光时,太阳能电池由于入射太阳光的能量而在半导体内产生空穴和电子,并且当在pn结处产生的电场使空穴(+)移动至p型半导体而电子(-)移动至n型半导体时产生电势,使得该太阳能电池产生电力。

太阳能电池可以分成基板型太阳能电池和薄膜型太阳能电池。基板型太阳能电池使用半导体材料例如硅作为基板,而且主要使用块型结晶硅基板。该太阳能电池可以具有高的效率和稳定性,但可能昂贵,可能难以使吸收层的厚度薄,可能进行间歇过程。同时,薄膜太阳能电池由非晶硅、薄膜多晶硅、铜铟镓二硒化物(CIGS)、碲化镉化合物(CdTe)、有机材料等制造,因而可以使吸收层的厚度薄,可以使用玻璃、金属或塑料作为基板,从而可以连续地大量生产以具有经济性。

薄膜太阳能电池由基板、在基板上形成的下电极、吸收光以产生电力的吸收层、光穿过的窗口层和用于保护下层的覆盖层来构造。在这种情况下,吸收层使用p型半导体而窗口层使用n型半导体以具有p-n二极管结构。

作为形成光吸收层的材料,薄膜型太阳能电池使用CuInSe2作为基材,并且可以使用利用镓(Ga)代替铟(In)的CuGaSe2、或者同时使用铟(In)和镓(Ga)的四元材料Cu(In,Ga)Se2。此外,薄膜型太阳能电池可以使用硒(Se)被替换为硫(S)的CuInS2、Cu(In,Ga)S2等以及同时使用了硒(Se)和硫(S)的基于五组分的材料Cu(In,Ga)(Se,S)2

通过添加其他元素至CuInSe2来控制带隙,从而增加光-电转换效率。在这种情况下,当薄膜型太阳能电池在吸收层的厚度方向具有相同的组成时,该薄膜型太阳能电池具有预定的带隙,但由于所添加的元素而在薄膜的厚度方向形成梯度,从而由于所形成的电场而使载流子的收集变得容易,由此提高光-电转换效率。特别地,与在厚度方向带隙始终增加的单梯度方法相比,将带隙控制为V字型的双梯度法可以将效率再提高2%至3%,使得实施双梯度法对高效太阳能电池是必要的。

在薄膜型太阳能电池中,光吸收层通过使用共蒸镀金属元素或二元化合物作为主要材料,或共溅射Cu、In和Ga的合金,在基板上沉积这些元素,然后硒化这些元素来制造。在这种情况下,使用共蒸镀制造吸收层的方法使(In,Ga)Se层在约350℃的温度下生长成晶体,并且将温度从350℃提高至550℃至600℃的高温,然后沉积第二CuSe层。CIGS通过在先前沉积的IGS层和新沉积的CS层之间的反应同时形成。当CS与IGS反应时,Cu-In的反应速率比Cu-Ga更快,因此Ga朝向下电极层具有更高的浓度(梯度),当第一IGS完全转化成CIGS时,沉积第三IGS层。在富铜的CIGS态中Cu浓度比即将沉积第三IGS层之前化学计量的CIGS更高,当另外被沉积时IGS层转化成缺铜的CIGS。此外,类似于第一层,当沉积第三层时,铜扩散至被沉积的第三IGS层,其中Ga朝向之后待沉积的缓冲层和窗口层具有更高的浓度,从而可以实现双梯度法。然而,由于双梯度使用了约550℃至600℃的高温,在使用一般的钠钙玻璃的情况下由于挠曲(deflection)等而可能不能保证大面积的均匀性,因此难以实现大的面积,材料利用率低,从而可能会增加生产成本。

同时,在使用溅射法作为沉积光吸收层的方法的情况下,在Cu-Ga和In被溅射之后,使用在所溅射的Cu-Ga和In上进行硒化或硫化的方法,但在硒化等时在吸收层内形成空隙,使得难以制造具有高的效率和可靠性的太阳能电池。

发明内容

技术问题

本发明的目的是提供制造太阳能电池的光吸收层的方法,其可以抑制空隙的形成,保证可靠性,同时即使在进行大面积工艺时也具有优良的薄膜均匀性,并且由于使用化合物靶在低温下通过溅射法形成光吸收层,在低成本下具有优异的生产率。

技术方案

在一个一般的方面,

制造太阳能电池的方法包括:在基板上形成下电极层;

通过使用由IIIb族元素与Se的化合物组成的靶进行溅射,在下电极层上形成第一前体层;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于SK新技术株式会社,未经SK新技术株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201480024133.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top