[发明专利]用于分辨多个接近触摸的方法和系统

说明书

背景技术

分辨接近的多个触摸需要准确的触摸位置并需要识别多触摸手势。更靠近的电极间距改善了多触摸分辨率，但这是昂贵的，特别是对于大传感器。本发明的改进方法还可增强多触摸分辨率。

发明内容

本发明公开了一种方法和系统，所述方法和系统用于接收触摸相关的测量数据，并由此形成测量的轮廓，然后将所测量的轮廓拟合到一组预定的轮廓，以确定预定的轮廓中的哪一个充分拟合测量的轮廓。预定的轮廓可以与许多类型的触摸事件相关联，其中使用常规技术可难于分辨所述类型的触摸事件。例如，预定的轮廓中的一个可以与极为接近地触摸触摸表面的两个、三个、四个等等手指相关联。拟合的轮廓可用于确定发生的触摸事件的类型，以及/或者与多个靠近定位的定点对象(例如，指尖)相关联的位置。

附图说明

图1为触敏装置的简化示意图；

图2为触敏装置的简化示意图；

图3a是示出矩阵式触摸屏上指尖触摸信号的两个轮廓的图示；

图3b是示出与接近的两个触摸相关联的信号响应的图示；

图4是示出与矩阵式触摸屏上的触摸相关联的数据值的阵列的图示；

图5a是示出与图4的图示中所示的矢量相关联的值的表；

图5b是示出与图4的图示中所示的矢量相关联的值的表；

图6a是示出四触摸群集的值的阵列的表；

图6b是示出与本文所描述的方法相关联的值间内插的示例的表；

图7a是示出与应用本文所描述的方法的结果相关联的数据的图示；

图7b是示出和与图7a的图示相关联的峰值相交的宽度矢量的值的图示；

图8a是示出从一行五个触摸测量的值的阵列的表；

图8b是示出线性形式的脊线矢量的表；

图8c是示出与相关值相关联的值的表；

图8d是示出与相关值相关联的值的表；

图9是示出脊值和相关值的图示；

图10a是示出在互电容式触摸屏上测量的数据的图示；

图11a是示出与触摸屏响应相关联的模拟数据的图示；

图11b是示出与电容耦合轮廓相关联的曲线的图示；

图11c是示出模拟几对触摸的电容耦合轮廓的曲线的图示；

图12a是示出与电容耦合轮廓相关联的曲线的图示；

图12b是示出与电容耦合轮廓相关联的曲线的图示；

图13a是示出与电容耦合轮廓相关联的曲线的图示；

图13b是示出与电容耦合轮廓相关联的曲线的图示；

图13c是示出与电容耦合轮廓相关联的曲线的图示；

图13d是示出与电容耦合轮廓相关联的曲线的图示；

图13e是示出与电容耦合轮廓相关联的曲线的图示；

图13f是示出与电容耦合轮廓相关联的曲线的图示；

图13g是示出与电容耦合轮廓相关联的曲线的图示；

图14是示出与使用预定的轮廓以感测触摸事件相关联的过程的流程图；

图15a是示出表示与触摸事件的电容耦合相关联的值的点虚线高斯曲线的图示；

图15b是示出表示与触摸事件的电容耦合相关联的值的点虚线高斯曲线的图示；

图15c是示出表示与触摸事件的电容耦合相关联的值的点虚线高斯曲线的图示；

图16a是示出与两个触摸相关联的轮廓和位置计算的表；

图16b是示出与两个触摸相关联的轮廓和位置计算的表；并且

图16c是示出与两个触摸相关联的轮廓和位置计算的表。

在附图中，类似的附图标号指示类似的元件。

具体实施方式

本发明是对分辨电容触摸系统中的多重触摸和触摸位置的内插的方法的增强，所述电容触摸系统包括电极的阵列和控制电路。电极电容(互电容和/或自电容)通过一个或多个触摸的存在而修改，并且每个触摸产生关于接近电极的测量值的轮廓。所述增强包括使用纵横比和/或相关性识别多重触摸，并通过与已知触摸信号轮廓的相关性分辨单个或多重时间上重叠的触摸的方法。

已知触摸信号轮廓可以基于传感器参数数学上地生成，或者它们可以在校准过程期间被测量。单独的轮廓可用于触摸屏的不同区域，例如，特殊的边缘轮廓可用于内插或外插靠近边缘的触摸位置。单独的轮廓可被生成用于表示单个触摸以及两个或更多个非常靠近的触摸。可在测量的值之间或者相关系数之间执行内插。