[发明专利]用于分辨多个接近触摸的方法和系统在审
| 申请号: | 201480020059.5 | 申请日: | 2014-04-01 |
| 公开(公告)号: | CN105103097A | 公开(公告)日: | 2015-11-25 |
| 发明(设计)人: | 伯纳德·O·吉安 | 申请(专利权)人: | 3M创新有限公司 |
| 主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041;G06F3/044 |
| 代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 顾丽波;井杰 |
| 地址: | 美国明*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 分辨 接近 触摸 方法 系统 | ||
1.一种在矩阵电容触摸测量系统上计算一个或多个触摸位置的方法,包括:
从多个相邻电极测量触摸引起的信号以提供测量数据;
组合测量数据以形成测量的轮廓;
将所测量的轮廓拟合到至少一个预定的轮廓;以及
基于所述拟合,计算与所述触摸引起的信号相关联的一个或多个触摸位置。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述预定的轮廓包括多重触摸的至少一个轮廓。
3.根据权利要求1所述的方法,其中所述多个相邻电极与第一维度相关联,并且与所述触摸引起的信号相关联的所述触摸位置在所述第一维度上。
4.根据权利要求3所述的方法,还包括:
从与第二维度相关联的第二组多个相邻电极来测量触摸引起的信号,以提供进一步的测量数据;
组合所述进一步的测量数据以形成进一步的测量的轮廓;
将所述进一步的测量的轮廓拟合到所述预定的轮廓中的一个;以及,
基于所述进一步的测量的轮廓的所述拟合,计算在所述第二维度上与所述触摸引起的信号相关联的触摸位置。
5.一种从矩阵电容测量系统计算触摸位置的方法,包括:
存储一组预定的轮廓,所述一组预定的轮廓包括表示矩阵电容测量系统上的触摸引起的电容改变的测量的或计算的值,其中至少一个轮廓与单个触摸一致,并且至少一个轮廓与接近的多重触摸一致;以及
组合从第一维度中的多个相邻电极测量的信号改变以形成第一测量的轮廓,并且组合从第二维度中的多个相邻电极测量的信号改变以形成第二测量的轮廓;以及
从所述一组预定的轮廓选择与所述第一测量的轮廓相关的第一相关的轮廓,以及从所述一组预定的轮廓选择与所述第二测量的轮廓相关的第二相关的轮廓。
6.根据权利要求5所述的方法,其中所述第一组轮廓包括单个触摸轮廓和多重触摸轮廓。
7.一种触敏设备,包括:
面板,所述面板包括触摸表面以及限定电极矩阵的多个电极,所述多个电极包括多个驱动电极和多个接收电极,每个驱动电极在所述矩阵的各个节点处电容耦合至每个接收电极,所述面板被构造成使得到接近所述节点中的一个的所述触摸表面的触摸改变与给定节点相关联的所述驱动电极和所述接收电极之间的耦合电容;
电子器件,所述电子器件被构造成用于:
将触摸引起的测量数据接收作为与多个相邻接收电极相关联的响应信号;
组合与所述相邻接收电极相关联的所述测量数据,以形成测量的轮廓;
将所测量的轮廓拟合到至少一个预定的轮廓;以及
基于所述拟合,计算与所述触摸引起的信号相关联的一个或多个触摸位置。
8.根据权利要求7所述的设备,其中两个或更多个触摸位置被拟合到单个轮廓。
9.一种电子装置,所述电子装置包括从多个相邻电极接收触摸引起的测量数据的处理器,并且其中所述处理器组合来自所述多个相邻电极的所述测量数据以形成触摸轮廓,然后将所述触摸轮廓拟合到预定的轮廓,并且基于所述拟合,计算所述触摸引起的测量数据是否指示一个或多于一个的触摸。
10.根据权利要求9所述的装置,其中所述预定的轮廓包括多重触摸的至少一个轮廓。
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