[发明专利]摄像装置的异物信息检测装置以及异物信息检测方法

说明书

技术领域

本技术涉及在拍摄装置中检测存在于图像数据内的异物信息的异物信息检测装置以及异物信息检测方法。

背景技术

在摄像装置中，若灰尘等异物附着于光学系统，则在所拍摄的图像中映入这些异物的影子，存在图像的品质下降的课题。

在专利文献1中，公开了一种对即使通过振动也无法除去的光学系统内的极小的异物所导致的画质劣化进行校正的摄像装置。该专利文献1所公开的装置，对设定为不同的光圈值的2个图像进行摄像，从该光圈值不同的摄像图像中检测异物信息(异物的位置以及大小的信息)，并将异物信息与摄像图像数据建立关联进行记录。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：JP特开2009-152696号公报

发明内容

本技术的摄像装置的异物信息检测装置具备：对由摄像装置拍摄得到的多幅显示用的图像数据、在多幅显示用的图像数据的拍摄前取得的异物信息检测用的第1图像数据以及在多幅显示用的图像数据的拍摄后取得的异物信息检测用的第2图像数据进行记录的记录部；和构成为读入记录在记录部中的多幅显示用的图像数据，并对该图像数据检测与异物相关的信息的控制部。控制部基于第1图像数据以及第2图像数据，按照每个异物来检测表示存在于第1图像数据以及第2图像数据各自的图像数据内的异物的位置的异物信息。控制部构成为使用检测出的该异物信息，来检测表示多幅显示用的图像数据各自中的异物的位置的异物信息。

附图说明

图1是表示使用本技术的异物信息检测装置的摄像装置的整体构成的一例的框图。

图2是表示本技术的一个实施方式中的异物信息检测装置的构成的框图。

图3是在本技术的异物信息检测装置以及异物信息检测方法中，用于对控制部的异物信息检测动作进行说明的流程图。

图4是用于说明第1检测功能步骤的概要的说明图。

图5是用于说明第2检测功能步骤的处理动作的流程图。

图6是表示控制部所生成的异物信息列表的一例的说明图。

图7是在本技术的异物信息检测装置中，用于说明控制部中的异物检测动作的一例的说明图。

具体实施方式

以下，参照附图对本技术的一个实施方式的摄像装置的异物信息检测装置以及异物信息检测方法进行说明。但是，有时省略过于详细的说明。例如，有时省略已经被熟知的事项的详细说明、对实质上相同的构成的重复说明。这是为了避免以下的说明变得过于冗长，使本领域技术人员容易理解。另外，发明者为了本领域技术人员充分理解本公开而提供附图以及以下的说明，并非想要通过这些来限定权利要求书所记载的主题。

[1-1.构成]

图1是表示使用本技术的异物信息检测装置的摄像装置的整体构成的一例的框图。

如图1所示，摄像装置通过作为摄像部的CCD(Charge Coupled Devices)传感器以及CMOS(Complementary Metal-Oxide Semiconductor)传感器等图像传感器2来拍摄经由光学系统1而形成的被摄体像。图像传感器2基于所拍摄的被摄体像，生成图像数据。图像传感器2所生成的图像数据通过作为对模拟信号进行调整的信号调整电路的AFE(Analog Front End)3，被送往进行图像变换等处理的图像处理部4，并被实施各种图像处理。所生成的图像数据被记录在作为数据记录部的记录介质中。另外，作为记录介质的例子，有闪存以及存储卡等，但在本实施方式中，以记录介质为存储卡的情况为例进行说明。

图像传感器2对通过光学系统1而形成的被摄体像进行摄像，生成图像数据。图像传感器2在数码照相机处于拍摄模式时，能够每隔一定时间生成新的帧的图像数据。

在AFE3中，对从图像传感器2读出的图像数据实施通过模拟增益控制器进行的向A/D转换器的输入范围宽度的放大、通过A/D转换器进行的A/D变换。然后，AFE3将图像数据输出到图像处理部4。

图像处理部4对从AFE3输出的图像数据，实施各种图像处理。作为各种图像处理，包含拖尾校正、白平衡校正、伽马校正、YC变换处理、电子变焦处理、压缩处理、解压处理等。另外，图像处理不限定于这些。图像处理部4将实施了各种图像处理的图像信息暂时存储在缓冲存储器5中。另外，缓冲存储器5是作为图像处理部4、控制器部6的工作存储器而发挥作用的存储单元，能够由DRAM(Dynamic Random Access Memory)等来实现。