[发明专利]利用多个标签实现的机架取向检测

权利要求书

1.一种样本载体，包括：

主体，其包括用于固持样本容器或样本的一个或多个凹口；和

两个或两个以上RFID标签，其附接到所述主体，

其中所述两个或两个以上RFID标签中至少有一个经调整用以界定所述样本载体的起点，且剩余RFID标签经调整用以界定所述样本载体的取向，

所述剩余RFID标签是与经调整用以界定所述起点的RFID标签形成直角的两个RFID标签，且其中经调整用以界定所述起点的RFID标签或所述剩余RFID标签中的一个标签将包括所述样本载体的尺寸信息。

2.根据权利要求1所述的样本载体，其中，至少有一个所述RFID标签经调整用以界定所述样本载体的所述起点，该标签包括存储所述样本载体特性的存储器；其中所述两个或两个以上RFID标签中至少有两个被激活，并由RFID读取器天线读取。

3.根据权利要求2所述的样本载体，其中，所述特性包含所述样本载体的几何形状，且其中所述至少两个RFID标签以如下方式被间隔：使所述至少两个RFID标签可各自与位于支架主体上的对应RFID读取器天线对准，所述样本载体在使用期间可放置在所述支架主体之上。

4.一种检测样本载体的取向的系统，包括：

样本载体，其包括主体，所述主体包括两个或两个以上RFID标签及用于固持样本或样本容器的两个或两个以上凹口，其中，所述两个或两个以上RFID标签中至少有一个界定所述样本载体的起点，且剩余RFID标签界定所述样本载体的取向；及

RFID读取器天线矩阵，其包括多个RFID天线，其中，所述RFID读取器天线矩阵位于上面放置所述样本载体的区域下方或所述区域内，

其中，当所述样本载体放置在所述区域时，所述样本载体的RFID标签中至少有两个可与所述RFID读取器天线矩阵的至少两个RFID天线唯一对准。

5.根据权利要求4所述的系统，其中，所述RFID读取器天线矩阵配置为间距相等的天线的一维或二维矩阵。

6.根据权利要求5所述的系统，其中，两个RFID标签彼此的间隔距离与所述RFID读取器天线矩阵中相邻读取器天线之间的距离相等。

7.根据权利要求4至6中任一权利要求所述的系统，其中，所述系统在实验室自动化系统中，且其中所述区域是所述实验室自动化系统的样本输入区域或样本输出区域中的抽屉的组成部分。

8.一种使用根据权利要求4所述的系统的方法，所述方法包括：

将所述样本载体的所述两个或两个以上RFID标签与所述RFID读取器天线矩阵对准，对准方式是，使所述至少两个RFID标签中的每一个紧靠所述RFID读取器天线矩阵的单个RFID读取器天线。

9.根据权利要求8所述的方法，还包括：

检测位置；和

使用所述RFID读取器天线矩阵，对所述区域内的所述样本载体进行取向。

10.根据权利要求9所述的方法还包括：使用界定所述起点的RFID标签确定样本载体的几何形状信息。

11.根据权利要求10所述的方法，其中所述样本载体几何形状信息直接获自界定所述起点的RFID标签或获自数据库，所述数据库包括以下项目的列表：样本载体类型、相应样本载体几何形状信息和任选地对应样本容器或可由所述样本载体类型承载的其他物体。

12.根据权利要求11所述的方法，还包括：

通过所述样本载体几何形状信息确定所述样本载体中的样本或样本容器在所述区域中的位置。

13.根据权利要求12所述的方法，还包括：

在图形用户界面上显示通过使用所述RFID读取器天线矩阵检测到的至少一个样本载体。

14.根据权利要求8至13中任一权利要求所述的方法，其中，所述RFID读取器天线设计为彼此间隔，使得与读取器天线对准且由所述读取器天线激活的RFID标签的相邻RFID标签并非也由所述读取器天线激活。