[实用新型]上下配合式工件结构尺寸检测装置有效

专利信息
申请号: 201420848403.7 申请日: 2014-12-29
公开(公告)号: CN204405019U 公开(公告)日: 2015-06-17
发明(设计)人: 陈亿善;薄克艳 申请(专利权)人: 爱彼思(苏州)自动化科技有限公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01B11/02
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 董建林
地址: 215163 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 上下 配合 工件 结构 尺寸 检测 装置
【权利要求书】:

1. 一种上下配合式工件结构尺寸检测装置,包括:设置在台面上方的上检测装置和设置在台面下方的下检测装置,其特征在于,所述上检测装置和所述下检测装置均安装在对应的移动模组上,所述上检测装置上装有上激光器和CCD,所述下检测装置上装有下激光器,所述上激光器和所述下激光器相对设置。

2. 根据权利要求1所述的上下配合式工件结构尺寸检测装置,其特征在于:所述上检测装置和所述下检测装置各自对应的移动模组均包括X轴和Y轴。

3. 根据权利要求1所述的上下配合式工件结构尺寸检测装置,其特征在于:所述上激光器的光头和所述下激光器的光头相对设置,所述工件位于两个光头之间。

4. 根据权利要求1或3所述的上下配合式工件结构尺寸检测装置,其特征在于:激光器的发射光线和接收光线共同所在的平面为光面,所述上激光器的光面和所述下激光器的光面水平成90°夹角设置。

5. 根据权利要求4所述的上下配合式工件结构尺寸检测装置,其特征在于:所述上激光器和所述下激光器在竖直平面内均能够旋转调整发射光线的角度。

6. 根据权利要求1所述的上下配合式工件结构尺寸检测装置,其特征在于:所述上检测装置和所述下检测装置分别对应的X轴相互平行,分别对应的Y轴相互平行。

7. 根据权利要求1所述的上下配合式工件结构尺寸检测装置,其特征在于:所述CCD下部的镜头外周设有环形光源。

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