[实用新型]用于检测可透光基材的基材缺陷检测装置

权利要求书

1.一种用于检测可透光基材的基材缺陷检测装置，其特征在于，其包括：

一光源模块，所述光源模块具有一发光区及一暗区，所述暗区环设于所述发光区的周围，所述发光区具有一照射在位于一检测区域内的所述基材上的检测光源，其中所述发光区界定有一光学中心轴；

一检测模块，所述检测模块与所述光源模块彼此相对应设置，所述检测模块包括一用于撷取位于所述检测区域内的所述基材的影像信息的线性影像撷取单元，其中所述线性影像撷取单元具有一检测中心轴及投射于所述暗区的截取范围，所述检测中心轴非同轴于所述光学中心轴；以及

一控制模块，所述控制模块电性连接于所述检测模块，以接收所述检测模块所撷取到的影像信息，其中所述影像信息通过所述控制模块的运算，以得到一位于所述基材上的瑕疵区域的一瑕疵信息；

其中，所述检测光源通过位于所述基材上的所述瑕疵区域，偏折投射在所述线性影像撷取单元的所述截取范围中。

2.根据权利要求1所述的用于检测可透光基材的基材缺陷检测装置，其特征在于，所述线性影像撷取单元的所述截取范围直接穿过所述基材而投影在所述光源模块的所述暗区范围上。

3.根据权利要求1所述的用于检测可透光基材的基材缺陷检测装置，其特征在于，所述截取范围邻近于所述光源模块的所述发光区。

4.根据权利要求1所述的用于检测可透光基材的基材缺陷检测装置，其特征在于，所述检测中心轴与所述光学中心轴相互平行。

5.根据权利要求1所述的用于检测可透光基材的基材缺陷检测装置，其特征在于，还进一步包括一输送模块，所述输送模块包括多个滚轮，以输送所述基材至一检测区域。

6.根据权利要求1所述的用于检测可透光基材的基材缺陷检测装置，其特征在于，所述光源模块设置于所述基材的一第一侧边，所述检测模块设置于所述基材的一第二侧边。

7.根据权利要求1所述的用于检测可透光基材的基材缺陷检测装置，其特征在于，所述基材为具有透光性的薄膜。

8.根据权利要求1所述的用于检测可透光基材的基材缺陷检测装置，其特征在于，所述光源为线性光源。

9.根据权利要求1所述的用于检测可透光基材的基材缺陷检测装置，其特征在于，所述撷取范围小于所述检测光源投射于所述基材上的投射面积的30％。

10.根据权利要求1所述的用于检测可透光基材的基材缺陷检测装置，其特征在于，通过调整所述线性影像撷取单元至所述基材之间的距离，以调整所述线性影像撷取单元的所述截取范围。