[实用新型]晶体谐振器参数测试器的接线装置有效
申请号: | 201420559663.2 | 申请日: | 2014-09-26 |
公开(公告)号: | CN204065290U | 公开(公告)日: | 2014-12-31 |
发明(设计)人: | 连秉卫 | 申请(专利权)人: | 铜陵日兴电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R1/04 |
代理公司: | 合肥鼎途知识产权代理事务所(普通合伙) 34122 | 代理人: | 李兵 |
地址: | 244000 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 晶体 谐振器 参数 测试 接线 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及晶体谐振器参数测试技术领域,尤其涉及晶体谐振器参数测试器的接线装置。
背景技术
晶体谐振器就是指用石英材料做成的石英晶体谐振器,俗称晶振,起产生频率的作用,具有稳定,抗干扰性能良好的特点,广泛应用于各种电子产品中。
在制作晶体谐振器领域中,需要对制造好的晶体谐振器进行参数测试,检测晶体测试器是否符合工艺要求,在测试时,直接通过在两个测试导线端头处安装接线铜端子,铜端子的另一端设置顶针,通过自动化设备将顶针上下移动,连续的接触轨道上移动的晶体测试器上的两个引脚,进行导通检测,但是这种接线方式,很容易使测试导线疲劳和强度降低,容易使测试导线损坏,更换成本大,浪费资源和成本,而且会导致测量数据误差大,从而导致测量不准确。
实用新型内容
有鉴于此,有必要提供一种防止测量导线疲劳和强度降低,不会导致测量导线损坏,节约成本资源和测量数据误差小的晶体谐振器参数测试器的接线装置。
本实用新型是这样实现的,晶体谐振器参数测试器的接线装置,安装在工作台上,所述工作台上设有晶体谐振器限位槽,包括检测设备、顶针板、伸缩杆、顶针和检测导线,还包括固定板和软性导线,所述检测设备固定在工作台上,所述顶针板通过伸缩杆固定在工作台上,顶针板处于晶体谐振器限位槽的正上方,所述顶针固定在顶针板上,顶针上设有接线柱,所述固定板固定在工作台或者检测设备上,固定板上设有铜接线柱,所述检测导线的一端连接检测设备,另一端固定在铜接线柱上,所述软性导线的一端连接在顶针上的接线柱上,另一端连接在铜接线柱上。
本实用新型提供的晶体谐振器参数测试器的接线装置的优点在于:本实用新型结构简单合理,通过将检测导线的一端连接检测设备,另一端固定在固定板上的铜接线柱上,检测导线不需要运动,不会产生疲劳和强度降低,通过在顶针上设置接线柱,接线柱与铜接线柱通过设置软性导线连接,在检测时,伸缩杆的伸缩带动顶针板运动,从而顶针上下运动,来进行连续的检测,提高工作效率,软性导线不易产生疲劳,且软性导线损坏时,通过更换软性导线即可,不需要更换检测导线,方便快捷,而且节约大量材料和成本,有效防止测量数据产生误差。
附图说明
图1为本实用新型晶体谐振器参数测试器的接线装置的结构示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
请参阅图1,图1为本实用新型晶体谐振器参数测试器的接线装置的结构示意图。
所述晶体谐振器参数测试器的接线装置,安装在工作台10上,所述工作台10上设有晶体谐振器限位槽11,包括检测设备20、顶针板30、伸缩杆40、顶针50和检测导线60,还包括固定板70和软性导线80,所述检测设备20固定在工作台10上,所述顶针板30通过伸缩杆40固定在工作台10上,顶针板30处于晶体谐振器限位槽11的正上方,所述顶针50固定在顶针板30上,顶针50上设有接线柱51,所述固定板70固定在工作台10或者检测设备20上,固定板70上设有铜接线柱71,所述检测导线60的一端连接检测设备20,另一端固定在铜接线柱71上,所述软性导线80的一端连接在顶针50上的接线柱51上,另一端连接在铜接线柱71上。
本实用新型结构简单合理,通过将检测导线60的一端连接检测设备20,另一端固定在固定板70上的铜接线柱71上,检测导线60不需要运动,不会产生疲劳和强度降低,通过在顶针50上设置接线柱51,接线柱51与铜接线柱71通过设置软性导线80连接,在检测时,伸缩杆40的伸缩带动顶针板30运动,从而顶针50上下运动,来进行连续的检测,提高工作效率,软性导线80不易产生疲劳,且软性导线80损坏时,通过更换软性导线80即可,不需要更换检测导线60,方便快捷,而且节约大量材料和成本,有效防止测量数据产生误差。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
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