[实用新型]晶体谐振器参数测试器的接线装置有效
申请号: | 201420559663.2 | 申请日: | 2014-09-26 |
公开(公告)号: | CN204065290U | 公开(公告)日: | 2014-12-31 |
发明(设计)人: | 连秉卫 | 申请(专利权)人: | 铜陵日兴电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R1/04 |
代理公司: | 合肥鼎途知识产权代理事务所(普通合伙) 34122 | 代理人: | 李兵 |
地址: | 244000 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 晶体 谐振器 参数 测试 接线 装置 | ||
1. 晶体谐振器参数测试器的接线装置,安装在工作台(10)上,所述工作台(10)上设有晶体谐振器限位槽(11),包括检测设备(20)、顶针板(30)、伸缩杆(40)、顶针(50)和检测导线(60),其特征在于,还包括固定板(70)和软性导线(80),所述检测设备(20)固定在工作台(10)上,所述顶针板(30)通过伸缩杆(40)固定在工作台(10)上,顶针板(30)处于晶体谐振器限位槽(11)的正上方,所述顶针(50)固定在顶针板(30)上,顶针(50)上设有接线柱(51),所述固定板(70)固定在工作台(10)或者检测设备(20)上,固定板(70)上设有铜接线柱(71),所述检测导线(60)的一端连接检测设备(20),另一端固定在铜接线柱(71)上,所述软性导线(80)的一端连接在顶针(50)上的接线柱(51)上,另一端连接在铜接线柱(71)上。
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