[实用新型]半导体元件焊线检验工装有效
申请号: | 201420541067.1 | 申请日: | 2014-09-19 |
公开(公告)号: | CN204088273U | 公开(公告)日: | 2015-01-07 |
发明(设计)人: | 郝兴旺;刘路明 | 申请(专利权)人: | 常州银河世纪微电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 常州市天龙专利事务所有限公司 32105 | 代理人: | 夏海初 |
地址: | 213022 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 元件 检验 工装 | ||
1.一种半导体元件焊线检验工装,其特征在于:包括底座(1)、第一凸条(2)、第二凸条(3)和透明玻璃板(4),所述第一凸条(2)和第二凸条(3)分开布置在底座(1)的两侧,且分别与底座(1)通过柱孔定位副相配装,底座(1)与第一凸条(2)和第二凸条(3)相配装后,在第一凸条(2)与第二凸条(3)之间有用于容纳半导体元件的空腔(5);所述透明玻璃板(4)的两侧分别与第一凸条(2)和第二凸条(3)连接,所述透明玻璃板(4)有用来通过夹持工具滑移半导体元件的通道(6)。
2.根据权利要求1所述的半导体元件焊线检验工装,其特征在于:所述底座(1)分别与第一凸条(2)和第二凸条(3)的柱孔定位副相配装,是在所述底座(1)的两侧均设有2个有间距布置的定位柱(1-1),第一凸条(2)设有2个有间距布置的第一定位孔(2-1),第二凸条(3)设有2个有间距布置的第二定位孔(3-1);所述底座(1)一侧的2个定位柱(1-1)与第一凸条(2)的2个第一定位孔(2-1)定位相配装;所述底座(1)另一侧的2个定位柱(1-1)与第二凸条(3)的2个第二定位孔(3-1)定位相配装。
3.根据权利要求1所述的半导体元件焊线检验工装,其特征在于:所述透明玻璃板(4)的两侧分别与第一凸条(2)和第二凸条(3)的连接,是分别通过粘接剂与第一凸条(2)和第二凸条(3)连接的;或者所述底座(1)的两侧均设有2个有间距布置的定位柱(1-1),第一凸条(2)设有2个有间距布置的第一定位孔(2-1),第二凸条(3)设有2个有间距布置的第二定位孔(3-1),所述透明玻璃板(4)的一侧设有2个安装孔(4-1),而其另一侧设有1个安装孔(4-1);所述底座(1)一侧的2个定位柱(1-1)与第一凸条(2)的2个第一定位孔(2-1)以及与透明玻璃板(4)一侧的2个安装孔(4-1)定位相配装;所述底座(1)另一侧的2个定位柱(1-1)与第二凸条(3)的2个第二定位孔(3-1)定位相配装,以及底座(1)另一侧的2个定位柱(1-1)中的1个定位柱与透明玻璃板(4)另一侧的1个安装孔(4-1)定位相配装,而实现透明玻璃板(4)两侧分别与第一凸条(2)和第二凸条(3)连接的。
4.根据权利要求1至3之一所述的半导体元件焊线检验工装,其特征在于:所述底座(1)的一端有与其互为一体的用来方便半导体元件滑移的坡道(1-2)。
5.根据权利要求1至3之一所述的半导体元件焊线检验工装,其特征在于:所述第一凸条(2)内壁的底下部位且沿长度方向有第一卡槽(2-2),第二凸条(3)内壁的底下部位且沿长度方向有第二卡槽(3-2),且第一卡槽(2-2)与第二卡槽(3-2)是呈对称布置的。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于常州银河世纪微电子有限公司,未经常州银河世纪微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201420541067.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:马铃薯种植机种薯纸肥套
- 下一篇:林木苗种子培育装置
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造