[实用新型]用于高精度几何测量设备的多功能现场精度校验块

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种用于高精度几何测量设备的多功能现场精度校验块。

背景技术

激光跟踪仪、测量臂、测量笔等属于高精度几何量参数的测量设备，在对该类设备进行精度检测时，需要对其不同的检测参数、检测方法的精度进行校验。在实验室环境下，通常配置环规、平板、直线规等多种精度校验装置完成校验工作。但是，由于环规、平板等标准校验装置不易携带、存放等原因，且现场检测通常需要实施多种不同的几何参数、检测方法，校验人员无法将所有涉及的标准校验装置携带至工作现场，而工作现场由于振动、温度、气压及湿度的原因，更容易对设备的检测精度产生影响，因此需要研发一种便携的多功能现场精度校验块。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种用于高精度几何测量设备的多功能现场精度校验块，本校验块适用于生产现场对高精度几何测量设备的精度校验，提高测量设备的现场检测稳定性，确保实时检测精度满足要求。

为解决上述技术问题，本实用新型用于高精度几何测量设备的多功能现场精度校验块为圆柱体，所述圆柱体中心设有通孔，所述圆柱体顶面设有与所述通孔同轴的沉孔，所述圆柱体底面的平面度为0.01mm，所述圆柱体中心轴与底面的垂直度为0.02，所述圆柱体中心轴与所述沉孔中心轴的同轴度0.02，所述圆柱体和沉孔的圆柱度为0.01mm。

进一步，所述圆柱体的外径为Φ130mm、高度为100mm、通孔直径为Φ40mm、沉孔直径为Φ100mm。    

由于本实用新型用于高精度几何测量设备的多功能现场精度校验块采用了上述技术方案，即本校验块为圆柱体，所述圆柱体中心设有通孔，所述圆柱体顶面设有与所述通孔同轴的沉孔，所述圆柱体底面的平面度为0.01mm，所述圆柱体中心轴与底面的垂直度为0.02，所述圆柱体中心轴与所述沉孔中心轴的同轴度0.02，所述圆柱体和沉孔的圆柱度为0.01mm。本校验块适用于生产现场对高精度几何测量设备的精度校验，提高测量设备的现场检测稳定性，确保实时检测精度满足要求。

附图说明

下面结合附图和实施方式对本实用新型作进一步的详细说明：

图1为本实用新型用于高精度几何测量设备的多功能现场精度校验块示意图。

具体实施方式

如图1所示，本实用新型用于高精度几何测量设备的多功能现场精度校验块为圆柱体1，所述圆柱体1中心设有通孔2，所述圆柱体1顶面设有与所述通孔2同轴的沉孔3，所述圆柱体1底面的平面度为0.01mm，所述圆柱体1中心轴4与底面的垂直度为0.02，所述圆柱体1中心轴4与所述沉孔3中心轴的同轴度0.02，所述圆柱体1和沉孔3的圆柱度为0.01mm。

进一步，所述圆柱体1的外径为Φ130mm、高度为100mm、通孔2直径为Φ40mm、沉孔3直径为Φ100mm。

采用本校验块可根据检测项目涉及的各种参数（长度、角度、形位公差），在实施检测前对高精度几何测量设备的现场检测精度进行校验，确保测量设备的检测精度，及时排查影响检测精度的环境因素，保证检测质量，有效提高了检测效率和设备稳定性。

本校验块可应用于测量设备的尺寸检测精度校验、角度检测精度校验、圆度检测精度校验、圆柱度检测精度校验、垂直度检测精度校验、同轴度检测精度校验以及平面度检测精度校验。

如针对激光跟踪仪的测量精度校验，在尺寸检测精度校验时，首先激光跟踪仪系统热机，采集本校验块下端面的特征点并软件拟合平面，采集本校验块上端面的特征点并软件拟合平面，激光跟踪仪系统计算上、下端面的距离，并与本校验块的高度值进行比较，得到激光跟踪仪的测量精度，根据激光跟踪仪测量的精度要求，选择校准偏差，通常激光跟踪仪的现场检测偏差小于0.01mm，即可判断激光跟踪仪长度检测精度是否满足要求。

在角度检测精度校验时，采用测量设备测量本校验块中心轴与下端面的夹角，比较标准值90°，首先激光跟踪仪系统热机，采集本校验块下端面的特征点并软件拟合平面，采集本校验块沉孔的的圆柱特征点并拟合圆柱及中心，激光跟踪仪系统计算沉孔圆柱中心与下端面的角度，并与标准值90°进行比较，根据激光跟踪仪测量的精度要求，选择校准偏差，通常激光跟踪仪的现场检测偏差小于3”，即可判断激光跟踪仪角度检测精度是否满足要求。