[实用新型]用于高精度几何测量设备的多功能现场精度校验块有效
| 申请号： | 201420535716.7 | 申请日： | 2014-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN204188139U | 公开（公告）日： | 2015-03-04 |
| 发明（设计）人： | 刘晶;张拥军 | 申请（专利权）人： | 上海金艺检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02;G01B11/26;G01B11/24 |
| 代理公司： | 上海天协和诚知识产权代理事务所 31216 | 代理人： | 沈国良 |
| 地址： | 201900 上海市宝山区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 高精度 几何 测量 设备 多功能 现场 精度 校验 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于高精度几何测量设备的多功能现场精度校验块，其特征在于：所述校验块为圆柱体，所述圆柱体中心设有通孔，所述圆柱体顶面设有与所述通孔同轴的沉孔，所述圆柱体底面的平面度为0.01mm，所述圆柱体中心轴与底面的垂直度为0.02，所述圆柱体中心轴与所述沉孔中心轴的同轴度0.02，所述圆柱体和沉孔的圆柱度为0.01mm。
2.根据权利要求1所述的用于高精度几何测量设备的多功能现场精度校验块，其特征在于：所述圆柱体的外径为Φ130mm、高度为100mm、通孔直径为Φ40mm、沉孔直径为Φ100mm。
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