[实用新型]芯片测试装置有效

专利信息
申请号: 201420498120.4 申请日: 2014-08-29
公开(公告)号: CN204102576U 公开(公告)日: 2015-01-14
发明(设计)人: 陈任佳;林德先 申请(专利权)人: 深圳市嘉合劲威电子科技有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 代理人: 谢志为
地址: 518108 广东省深圳市龙岗*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 芯片 测试 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种芯片测试装置。

背景技术

在现今信息化爆炸的时代,个人计算机的使用已经与日俱增。内存条作为计算机的重要组成部分,其芯片的性能测试变得尤为重要。一般而言,现有的测试内存条芯片的方法是先将芯片焊接于一内存条的电路板上,再将电路板插入主板进行测试,此种方法,过程繁琐,效率低。

实用新型内容

鉴于以上,有必要提供一过程简单且测试效率高的芯片测试装置。

一种芯片测试装置,用于测试若干芯片,该芯片测试装置包括一固定架、一主板、一按压组件及一测试治具,该固定架包括一立板、两调节件、用于支撑该测试治具的一支撑板及一滑动组件,该主板平行地固定于该立板的前侧,每一调节件包括一沿上下方向滑动地装设于该立板的的前侧的第一块体及自该第一块体的下部延伸出的一第二块体,该支撑板沿前后方向滑动地装设于该两调节件的第二块体,该滑动组件包括一沿左右方向滑动地装设于该立板上部的第一滑动件及一沿上下方向滑动地装设于该第一滑动件的前侧的第二滑动件,该按压组件包括固定于该第二滑动件的前侧的两气缸及连接于该两气缸的活塞杆的底端的两按压部,该支撑板位于该两按压部的下方,每一按压部的底端设有用于按压芯片的若干压块,该主板设有一插槽,该测试治具包括支撑于该支撑板上的一支撑件、一插接于该主板的插槽的电路板、一夹持件及两定位板,该电路板设有若干焊盘,该电路板夹置于该支撑件与该夹持件之间且焊盘朝上,该夹持件于这些焊盘的上方装设有若干导电件,该两定位板固定于该夹持件的上方且于这些导电件的上方设有若干收容这些芯片的定位口,每一导电件的两端能够分别电连接芯片及电路板的焊盘。

优选地,每一调节件的第一块体设有一沿竖直方向延伸的长形的滑槽,该立板对应于该两调节件的滑槽设有两锁固孔,两螺丝穿过该两滑槽后锁入该两锁固孔,使该两调节件的第一块体沿上下方向滑动地装设于该立板。

优选地,每一调节件的第二块体的顶面设有一固定孔,该支撑板的两端对应于该两固定孔分别设有一沿垂直于该立板的方向延伸的长形的滑槽,两螺丝穿过该两滑槽后锁入该两固定孔,使该支撑板沿前后方向滑动地装设于该两第二块体。

优选地,该第一滑动件包括一主体块及自该主体块的前侧向下延伸出的一延伸板,该主体块的底部支撑于该立板的顶面,该延伸板邻近两端分别设有一沿该延伸板的长度方向延伸的滑槽,该立板的顶部对应于该两滑槽设有两螺孔,两螺丝穿过该两滑槽后锁入该两螺孔,使该第一滑动件沿左右方向滑动地装设于该立板。

优选地,该第二滑动件包括一固定于气缸的固定块及自该固定块的两侧的底部向下延伸出的两滑块,每一滑块设有一竖直的长形的滑槽,该主体块对应于该两滑块的滑槽设有两螺孔,两螺丝穿过该两滑块的滑槽后锁入该主体块的两螺孔,使该第二滑动件沿上下方向滑动装设于该第一滑动件。

优选地,该主板的四角分别设有一穿孔,该立板对应于这些穿孔设有四凸柱,每一凸柱沿轴向开设一螺孔,四螺丝穿过这些穿孔后锁入这些凸柱的螺孔,使该主板固定于该立板。

优选地,该固定架还包括一底板,该立板自该底板的中部垂直向上延伸出。

优选地,该支撑件的顶面开设一收容该电路板的收容槽,该电路板的两端分别设有一第一卡固口,该支撑件于该收容槽的两端分别设有一卡固于对应的第一卡固口内的定位片。

优选地,该夹持片对应该电路板上的这些焊盘设有若干通孔,这些导电件分别装设于这些通孔内,每一导电件包括一绝缘的安装块及安装于该安装块并与该电路板的其中一焊盘相对应的若干探针。

优选地,该夹持件上表面的中部沿该夹持片的长度方向开设两定位槽,这些导电件分别装设于该两定位槽内,每一定位槽内设有若干铁销,该两定位板分别收容于该两定位槽内且每一定位板设有若干收容对应定位槽的铁销的定位孔,每一定位孔的上部设有一吸附对应铁销的磁铁块。

相较现有技术,本实用新型芯片测试装置在测试时,这些芯片通过按压组件的按压及导电件的导通而电连接于电路板,无需焊接芯片及反复插拔电路板,过程简单易于操作,芯片更换及测试方便,效率得到提高。

附图说明

图1是本实用新型芯片测试装置的较佳实施方式的立体分解图。

图2是图1的立体组装图。

图3是图2的芯片测试装置的测试治具及主板的立体图。

图4是图3的测试治具的立体分解图。

图5是图4的测试治具于另一个方向的视图。

图6是图2的芯片测试装置的另一状态的视图。

具体实施方式

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