[实用新型]芯片测试装置

权利要求书

1.一种芯片测试装置，用于测试若干芯片，其特征在于：该芯片测试装置包括一固定架、一主板、一按压组件及一测试治具，该固定架包括一立板、两调节件、用于支撑该测试治具的一支撑板及一滑动组件，该主板平行地固定于该立板的前侧，每一调节件包括一沿上下方向滑动地装设于该立板的的前侧的第一块体及自该第一块体的下部延伸出的一第二块体，该支撑板沿前后方向滑动地装设于该两调节件的第二块体，该滑动组件包括一沿左右方向滑动地装设于该立板上部的第一滑动件及一沿上下方向滑动地装设于该第一滑动件的前侧的第二滑动件，该按压组件包括固定于该第二滑动件的前侧的两气缸及连接于该两气缸的活塞杆的底端的两按压部，该支撑板位于该两按压部的下方，每一按压部的底端设有用于按压芯片的若干压块，该主板设有一插槽，该测试治具包括支撑于该支撑板上的一支撑件、一插接于该主板的插槽的电路板、一夹持件及两定位板，该电路板设有若干焊盘，该电路板夹置于该支撑件与该夹持件之间且焊盘朝上，该夹持件于这些焊盘的上方装设有若干导电件，该两定位板固定于该夹持件的上方且于这些导电件的上方设有若干收容这些芯片的定位口，每一导电件的两端能够分别电连接芯片及电路板的焊盘。

2.如权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于：每一调节件的第一块体设有一沿竖直方向延伸的长形的滑槽，该立板对应于该两调节件的滑槽设有两锁固孔，两螺丝穿过该两滑槽后锁入该两锁固孔，使该两调节件的第一块体沿上下方向滑动地装设于该立板。

3.如权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于：每一调节件的第二块体的顶面设有一固定孔，该支撑板的两端对应于该两固定孔分别设有一沿垂直于该立板的方向延伸的长形的滑槽，两螺丝穿过该两滑槽后锁入该两固定孔，使该支撑板沿前后方向滑动地装设于该两第二块体。

4.如权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于：该第一滑动件包括一主体块及自该主体块的前侧向下延伸出的一延伸板，该主体块的底部支撑于该立板的顶面，该延伸板邻近两端分别设有一沿该延伸板的长度方向延伸的滑槽，该立板的顶部对应于该两滑槽设有两螺孔，两螺丝穿过该两滑槽后锁入该两螺孔，使该第一滑动件沿左右方向滑动地装设于该立板。

5.如权利要求4所述的芯片测试装置，其特征在于：该第二滑动件包括一固定于气缸的固定块及自该固定块的两侧的底部向下延伸出的两滑块，每一滑块设有一竖直的长形的滑槽，该主体块对应于该两滑块的滑槽设有两螺孔，两螺丝穿过该两滑块的滑槽后锁入该主体块的两螺孔，使该第二滑动件沿上下方向滑动装设于该第一滑动件。

6.如权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于：该主板的四角分别设有一穿孔，该立板对应于这些穿孔设有四凸柱，每一凸柱沿轴向开设一螺孔，四螺丝穿过这些穿孔后锁入这些凸柱的螺孔，使该主板固定于该立板。

7.如权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于：该固定架还包括一底板，该立板自该底板的中部垂直向上延伸出。

8.如权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于：该支撑件的顶面开设一收容该电路板的收容槽，该电路板的两端分别设有一第一卡固口，该支撑件于该收容槽的两端分别设有一卡固于对应的第一卡固口内的定位片。

9.如权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于：该夹持片对应该电路板上的这些焊盘设有若干通孔，这些导电件分别装设于这些通孔内，每一导电件包括一绝缘的安装块及安装于该安装块并与该电路板的其中一焊盘相对应的若干探针。

10.如权利要求1或9所述的芯片测试装置，其特征在于：该夹持件上表面的中部沿该夹持片的长度方向开设两定位槽，这些导电件分别装设于该两定位槽内，每一定位槽内设有若干铁销，该两定位板分别收容于该两定位槽内且每一定位板设有若干收容对应定位槽的铁销的定位孔，每一定位孔的上部设有一吸附对应铁销的磁铁块。