[实用新型]用于PCB电气性能测试的复合治具有效
申请号: | 201420376890.1 | 申请日: | 2014-07-09 |
公开(公告)号: | CN204086305U | 公开(公告)日: | 2015-01-07 |
发明(设计)人: | 陈代树 | 申请(专利权)人: | 竞华电子(深圳)有限公司 |
主分类号: | G01R1/02 | 分类号: | G01R1/02 |
代理公司: | 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312 | 代理人: | 陈健 |
地址: | 518104 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 pcb 电气 性能 测试 复合 | ||
1.一种用于PCB电气性能测试的复合治具,包括上下相对设置的上、下模,所述上、下模均设置有针盘,所述针盘上设置有探针,所述探针穿出所述针盘的上下表面,其一端可接触PCB板上的测试点,其特征在于,所述上、下模还分别设置有线盘及底板,所述底板上设置有针脚,所述针脚的分布密度与测试机的测试针的分布密度相同;所述线盘上设置有导线,所述导线的数量与所述探针的数量相同,所述探针的另一端与所述导线的一端电连接,所述导线的另一端与所述针脚电连接;所述探针的分布密度与所述PCB板上的测试点分布密度相同,且为所述针脚分布密度的整数倍。
2.如权利要求1所述的用于PCB电气性能测试的复合治具,其特征在于,所述导线为弹簧连线。
3.如权利要求1所述的用于PCB电气性能测试的复合治具,其特征在于,所述针盘包括若干上下间隔设置的面板、垫圈及支撑柱,所述垫圈设置于相邻的两块所述的面板之间,所述支撑柱穿设于所述垫圈及面板内,所述面板上设置有若干格栅,所述格栅的分布密度与所述PCB板上的测试点分布密度相同,每一格栅上开设有通孔,每一所述通孔内穿设一根所述的探针。
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