[实用新型]一种二极管的电性能测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种电性能测试装置，具体涉及一种用于检测二极管的电性能测试装置，属于半导体工装技术领域。

背景技术

现有的二极管在封装后需要进行电性能测试，所述电性能测试包括二极管的耐压测试、电流测试等，这是一道非常关键的工序，而在测试过程中测试片的设计好坏不直接会影响到测试结果。

在已有技术中，在二极管的电性能测试过程中，由于测试片的使用所占的测试成本较高，因此，测试片的寿命长短对整个测试生产成本影响非常关键。

目前的测试片的设计均考虑到了开尔文设计，（如图3所示），在沿着引线宽度方向留有一定的合理间隙，以及保持测试片不会发生短路情况下，以小于1/2引线宽度与引线接触，与引线的接触面积较小，对测试的安装位置要求较高，否则会引起接触不良，同时由于在生产中产品与测试片接触面积小，接近于点接触，这样测试片容易磨损，寿命较短，测试片的花费较大。

发明内容

本实用新型的目的是：提供一种不仅使用寿命长，而且测试可靠性高，不易发生接触不良的二极管的电性能测试装置，以克服现有技术的不足。

为了达到上述目的，本实用新型的技术方案：一种二极管的电性能测试装置，包括绝缘测试基板，所述绝缘测试基板上有2组与二极管的引线相适配的测试片组，而测试片组包括有间距对称布置的第一测试片和第二测试片，第一测试片固定在测试基板上，所述绝缘测试基板的相应部位设有绝缘定位柱，第二测试片套装在绝缘定位柱上；所述第一测试片和第二测试片，可分别与二极管的引线相搭接。           

在上述技术方案中，所述第一测试片具有互为一体的第一测试段、第一连接段和第一引线搭接段；所述第二测试片具有互为一体的第二测试段、第二连接段和第二引线搭接段；所述第一测试段和第二测试段呈对称布置且均延伸至绝缘测试基板外，第一引线搭接段和第二引线搭接段沿着绝缘测试基板的宽度方向相同平行布置，且第一引线搭接段和第二引线搭接段，分别与二极管的引线相搭接。

在上述技术方案中，所述第一测试片和第二测试片均为L型测试片。

在上述技术方案中，所述第一测试片的第一连接段和第一引线搭接段之间的夹角α控制在100～150°范围内；第二测试片的第二连接段和第二引线搭接段之间的夹角β控制在100～150°范围内。

在上述技术方案中，所述第一连接段和第一引线搭接段之间的夹角α与第二连接段和第二引线搭接段之间的夹角β的角度是相同或者不同的。

在上述技术方案中，所述第二测试片的第二连接段和第二引线搭接段分别通过绝缘定位柱与绝缘测试基板相配装。

在上述技术方案中，所述电性能测试装置，同样适用于三极管或整流桥的电性能测试，且所述测试片组有3组或4组，所述3组或4组测试片组与三极管或整流桥的引线相适配。 

本实用新型所具有的积极效果是：由于采用上述二极管的电性能测试装置结构后，测试时，将二极管放置在绝缘测试基板上，而二极管的两个引线分别与相应的第一测试片和第二测试片相接触，然后再对第一测试片和第二测试片施加电性能测试（例如施加耐压测试的电压），若二极管的电性能满足技术要求，即为合格产品。而采用了本实用新型的电性能测试装置后，二极管的引线与测试片改为面接触，增加了接触面积，这样就不易出现接触不良的现象，使得测试可靠性高；若测试片与二极管引线接触部位出现了磨损，可以调整与测试片相接触位置，本实用新型仍能继续使用，使得使用寿命长。同时，本实用新型便于保管，而不像已有技术中的耐压测试装置只是单一的由几个测试片组成，容易出现丢失的现象。实现了本实用新型的目的。

附图说明

图1是本实用新型一种具体实施方式的主视图，其中，3是二极管，3-1是二极管的引线；

图2是图1的A-A剖视示意图；

图3是已有测试片的结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图以及给出的实施例，对本实用新型作进一步的说明，但并不局限于此。

如图1、2所示，一种二极管的电性能测试装置，包括绝缘测试基板1，所述绝缘测试基板1上有2组与二极管3的引线3-1相适配的测试片组2，而测试片组2包括有间距对称布置的第一测试片2-1和第二测试片2-2，第一测试片2-1固定在测试基板1上，所述绝缘测试基板1的相应部位设有绝缘定位柱1-1，第二测试片2-2套装在绝缘定位柱1-1上；所述第一测试片2-1和第二测试片2-2，可分别与二极管3的引线3-1相搭接。