[实用新型]一种二极管的电性能测试装置有效

专利信息
申请号: 201420252647.9 申请日: 2014-05-16
公开(公告)号: CN203870211U 公开(公告)日: 2014-10-08
发明(设计)人: 郭玉兵;孟浪;郝兴旺 申请(专利权)人: 常州银河世纪微电子有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 常州市天龙专利事务所有限公司 32105 代理人: 夏海初
地址: 213022 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 二极管 性能 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种二极管的电性能测试装置,其特征在于:包括绝缘测试基板(1),所述绝缘测试基板(1)上有2组与二极管(3)的引线(3-1)相适配的测试片组(2),而测试片组(2)包括有间距对称布置的第一测试片(2-1)和第二测试片(2-2),第一测试片(2-1)固定在测试基板(1)上,所述绝缘测试基板(1)的相应部位设有绝缘定位柱(1-1),第二测试片(2-2)套装在绝缘定位柱(1-1)上;所述第一测试片(2-1)和第二测试片(2-2),可分别与二极管(3)的引线(3-1)相搭接。

2.根据权利要求1所述的二极管的电性能测试装置,其特征在于:所述第一测试片(2-1)具有互为一体的第一测试段(2-1-1)、第一连接段(2-1-2)和第一引线搭接段(2-1-3);所述第二测试片(2-2)具有互为一体的第二测试段(2-2-1)、第二连接段(2-2-2)和第二引线搭接段(2-2-3);所述第一测试段(2-1-1)和第二测试段(2-2-1)呈对称布置且均延伸至绝缘测试基板(1)外,第一引线搭接段(2-1-3)和第二引线搭接段(2-2-3)沿着绝缘测试基板(1)的宽度方向相同平行布置,且第一引线搭接段(2-1-3)和第二引线搭接段(2-2-3),分别与二极管(3)的引线(3-1)相搭接。

3.根据权利要求1所述的二极管的电性能测试装置,其特征在于:所述第一测试片(2-1)和第二测试片(2-2)均为L型测试片。

4.根据权利要求2所述的二极管的电性能测试装置,其特征在于:所述第一测试片(2-1)的第一连接段(2-1-2)和第一引线搭接段(2-1-3)之间的夹角α控制在100~150°范围内;第二测试片(2-2)的第二连接段(2-2-2)和第二引线搭接段(2-2-3)之间的夹角β控制在100~150°范围内。

5.根据权利要求4所述的二极管的电性能测试装置,其特征在于:所述第一连接段(2-1-2)和第一引线搭接段(2-1-3)之间的夹角α与第二连接段(2-2-2)和第二引线搭接段(2-2-3)之间的夹角β的角度是相同或者不同的。

6.根据权利要求2所述的二极管的电性能测试装置,其特征在于:所述第二测试片(2-2)的第二连接段(2-2-2)和第二引线搭接段(2-2-3)分别通过绝缘定位柱(1-1)与绝缘测试基板(1)相配装。

7.根据权利要求1至6之一所述的二极管的电性能测试装置,其特征在于:所述电性能测试装置,同样适用于三极管或整流桥的电性能测试,且所述测试片组(2)有3组或4组,所述3组或4组测试片组(2)与三极管或整流桥的引线相适配。

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