[实用新型]一种改善MOCVD外延片均匀性的石墨盘有效
申请号: | 201420203207.4 | 申请日: | 2014-04-24 |
公开(公告)号: | CN203820884U | 公开(公告)日: | 2014-09-10 |
发明(设计)人: | 孙一军;李鸿渐;李盼盼;李志聪;王国宏 | 申请(专利权)人: | 扬州中科半导体照明有限公司 |
主分类号: | C23C16/458 | 分类号: | C23C16/458 |
代理公司: | 扬州市锦江专利事务所 32106 | 代理人: | 江平 |
地址: | 225009 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 改善 mocvd 外延 均匀 石墨 | ||
技术领域
本实用新型涉及MOCVD外延片生产技术领域,特别是MOCVD外延生产设备——石墨盘的设计。
背景技术
MOCVD是指金属有机物化学气相沉积设备,目前广泛应用于III-V化合物半导体薄膜材料的生长。载气把有机源带入反应室,在衬底上反应,形成薄膜材料。衬底放置于石墨盘上,通过灯丝或者射频进行加热,加热温度为500~1200 ℃。石墨盘由高纯石墨组成,并包裹SiC。加热单元在石墨盘下面。
目前Aixtron公司的G5 MOCVD外延石墨盘的设计为:小石墨盘放置于大石墨盘上, 栓通过小石墨盘上的孔支撑小石墨盘。外延生长过程中,载气(H2或者N2)通过大石墨盘上的通气小孔吹起小石墨盘,让其进行自转。小石墨盘上有1个中心片槽和6个对称的边缘片槽。大石墨盘底部的加热单元通过载气,把热量传递到置于小石墨盘盘片槽的衬底上。由于栓是由导热性很好的钛金属构成,小石墨盘盘上中心片的中心温度会明显高于边缘温度,同时又会高于边缘片的温度。这样会导致中心片中心波长比边缘短,同时中心片波长比边缘片短。小石墨盘内部温度不均匀造成小石墨盘生长的外延片均一性不好。
实用新型内容
本实用新型目的在于针对以上问题,提供一种改善MOCVD外延片均匀性的石墨盘。
本实用新型包括大石墨盘和小石墨盘,在大石墨盘上设有通气小孔和栓,在小石墨盘中心的背部设置与栓匹配的支撑凹槽,所述小石墨盘通过支撑凹槽和栓的配合,布置在大石墨盘上方;在小石墨盘上设置有中心片槽和边缘片槽,所述边缘片槽沿中心片槽的外周均布;在所述小石磨盘的背部设置圆柱形凹槽,所述支撑凹槽设置在圆柱形凹槽的中部。
本实用新型通过对现有小石磨盘进行改良,在小石磨盘背部进行挖空,挖空形状为一规则圆柱形,改善了由于栓导热造成的小盘中心局部温度较高,从而降低小石墨盘中心和边缘温度差异,最终获得均匀性很好的外延片。
本实用新型所述圆柱形凹槽的深度为10~10000微米,直径为10~10000微米。通过进一步优化小石墨盘背面圆柱形凹槽的大小,可以调整小石墨盘中心片的温度,进一步提高外延片质量。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
图2为图1的俯向视图。
具体实施方式
如图1、2所示,本实用新型包括大石墨盘1和小石墨盘2,在生产时,大石墨盘1下方布置有加热单元3;在大石墨盘1上设有通气小孔4和栓5,在小石墨盘2中心的背部设置与栓5匹配的支撑凹槽6,小石墨盘2通过支撑凹槽6和栓4的配合,布置在大石墨盘1上方;在小石墨盘2上设置有一个中心片槽7和六个边缘片槽8,所述六个边缘片槽8沿中心片槽7的外周均布;在小石磨盘2的背部设置圆柱形凹槽9,支撑凹槽6设置在圆柱形凹槽9的中部。圆柱形凹槽9的深度为10~10000微米,直径为10~10000微米。
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C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
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