[实用新型]一种提高清洗机产能的装置有效

专利信息
申请号: 201420122359.1 申请日: 2014-03-18
公开(公告)号: CN203800021U 公开(公告)日: 2014-08-27
发明(设计)人: 商毅博 申请(专利权)人: 西安神光安瑞光电科技有限公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 倪金荣
地址: 710100 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 提高 清洗 产能 装置
【说明书】:

技术领域

本实用新型属于LED外延衬底图形制造领域,特别是涉及一种提高清洗机产能的装置。

背景技术

在半导体制造领域,wafer(晶片)的清洗一直是必不可少的工艺环节。尤其在PSS图形化衬底制造工艺中,不仅在制备PSS图形前需要对wafer进行清洗,通过ICP蚀刻完所需图形后,仍需要对产品进行出货清洗,再加上返工流程所需要的清洗,整个制备流程在清洗环节需要消耗大量的时间,对清洗设备的产能是很大的考验。因此,在生产中,化学清洗往往是提高生产效率的瓶颈所在。

目前,清洗的工艺流程为,下线洗:酸洗+去离子水洗→碱洗+去离子水洗→刷洗→甩干;ICP后清洗:酸洗+去离子水洗→超声碱洗+去离子水洗→甩干→超声碱洗+去离子水洗→高温酸洗+去离子水洗→甩干。其中在每一组药液清洗完成后都有一步去离子水清洗,采用去离子水清洗的目的是清除残留在wafer表面的药液,防止在进行下步清洗时污染随后的药液,因此,此步骤不可避免。

现有的清洗机台的设计一般为,药液槽和对应的去离子水槽配成一组,药液槽在里,水槽在外。每组槽上方配备带有一个抓手并可以旋转180°的轴,抓手处配有一个挂篮用来放置盛放水的片盒。清洗时,由人工将片盒放入挂篮内,之后挂篮旋转180°至药液槽上方,下降,将片盒浸入药液中清洗,清洗完成后,抓手上升并旋转180°至水槽上方,下降至水槽中完成去离子水清洗。即可完成此环节的清洗。由清洗流程可以看到,当流程进行到去离子水洗时,药液槽处于闲置状态,非常严重的浪费机台的产能。

实用新型内容

为了解决背景技术中所存在的技术问题,本实用新型提出了一种提高清洗机产能的装置,清洗效率提高,提高了清洗机台的产能。

本实用新型的技术解决方案是:一种提高清洗机产能的装置,包括转动轴、与转动轴连接的抓手轴以及设置在抓手轴端部的抓手部件,其特征在于:所述抓手轴是两个,沿转动轴的轴向方向对称设置。

上述抓手部件上设置挂篮,所述挂篮设置在抓手部件端部。

本实用新型的发明是在原机台设备上增加一装置,以达到提高清洗机台产能的目的。机台改造后,清洗效率提高,提高了清洗机台的产能。

附图说明

图1是本实用新型现有技术的结构示意图;

图2是本实用新型的结构示意图;

具体实施方式

参见图2,本实用新型提出了一种提高清洗机产能的装置,包括转动轴1、与转动轴1连接的抓手轴2以及设置在抓手轴2端部的抓手3,抓手轴2是两个,沿转动轴1的轴向方向对称设置。以转动轴1为轴,本实用新型在原抓手轴对称的地方增加一个抓手3和挂篮4。清洗时,由人工将片盒分别放入两个挂篮4内,之后挂篮旋转180°至药液槽上方,下降,将片盒浸入药液中清洗,清洗完成后,抓手3上升并旋转180°至水槽上方,下降至水槽中完成去离子水清洗。当第一批产品完成药液清洗转动至水槽时,第二批产品则刚好转至药液槽,即当第一批产品进行至去离子水清洗时,可同时对第二批产品进行药液清洗。这样,可大大提高清洗机台的产能。

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