[实用新型]光电编码器位置测试仪有效
申请号: | 201420116688.5 | 申请日: | 2014-03-14 |
公开(公告)号: | CN204027519U | 公开(公告)日: | 2014-12-17 |
发明(设计)人: | 沈宗月;王卫楠;康岭;肖余之;曹鲁英;魏然;吴建桔;朱波;李向华;严云红;熊四军;力昌兵 | 申请(专利权)人: | 上海宇航系统工程研究所 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人: | 胡晶 |
地址: | 201108 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 光电 编码器 位置 测试仪 | ||
技术领域
本实用新型涉及航天电子地面设备以及部分在轨移动和伺服机构,特别涉及一种光电编码器位置测试仪。
背景技术
在航天移动机构、伺服机构安装过程中,需要将机构的电零位和机械零位安装重合,并需要实时读出当前机构所处是位置。现有技术中,一般通过眼睛观察光电编码器是否安装到达机械零位,采用这种方式容易引入人为误差,安装的光电编码器零位偏差较大。
实用新型内容
为了解决上述问题,本实用新型提供的一种光电编码器位置测试仪,其包括依次连接的光电编码器、光电编码器信号处理模块、数据转换模块、数字信号处理模块以及显示模块;
所述光电编码器输出光信号至所述光电编码器信号处理模块,所述光电编码器信号处理模块将所述光信号转化为电信号并对所述电信号进行处理后输出给所述数据转换模块;
所述数据转换模块接收经过处理的所述电信号并转换成数字位置信号;
所述数字信号处理模块接收所述数字位置信号并转换为驱动信号发送至所述显示模块;
所述显示模块接收所述驱动信号并显示所述光电编码器的电气位置。
较佳地,所述光电编码器信号处理模块包括数字信号提取电路、转换电路和放大电路。
较佳地,所述转换电路用于将所述光信号转化为电信号,所述数字信号提取电路用于对所述电信号的精码与粗码的提取,所述放大电路对所述精码与粗码放大处理。
较佳地,所述数据转换模块包括电压比较器电路与信号波动补偿电路,所述电压比较器电路将所述光电编码器信号处理模块输出的粗码、精码进行整形转换为数字位置信号,所述信号波动补偿电路对所述数字位置信号波动的补偿。
较佳地,所述数字信号处理模块包括一FPGA芯片,所述液晶驱动信号包括 两方波信号。
较佳地,所述液晶显示模块包括一八位段式液晶显示屏,所述八位段式液晶显示屏包括一个公共端以及与八个数字位控制端,所述两方波信号分别输入到所述公共端与数字位控制端。
本实用新型提供的光电编码器位置测试仪提供的光电编码器信号处理模块、数据转换模块和数字信号处理模块协同完成了数据信号的整形、放大以及细分等处理过程,精度高;同时本实用新型带有液晶显示屏幕,可实时显示光电编码器的弧度制电气位置,方便光电编码器在安装过程中确认是否安装到达零位,判读光电编码器的当前位置,本实用新型提供的光电编码器位置测试仪精度高、集成度高、体积小,方便操作。
当然,实施本实用新型的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。
附图说明
图1为本实用新型提供的光电编码器位置测试仪结构示意图。
具体实施方式
本实用新型提供了一种光电编码器位置测试仪,其包括依次连接的光电编码器1、光电编码器信号处理模块2、数据转换模块3、数字信号处理模块4以及显示器模块5;
光电编码器1输出光信号至光电编码器信号处理模块2,光电编码器信号处理模块2将所述光信号转化为电信号并对所述电信号进行处理后输出给数据转换模块3;
数据转换模块3接收经过处理的所述电信号并转换成数字位置信号;
数字信号处理模块4接收所述数字位置信号并转换为液晶驱动信号发送至显示模块5;
显示模块5接收所述液晶驱动信号并显示光电编码器1的电气位置。
其中光电编码器信号处理模块2包括数字信号提取电路、转换电路和放大电路;转换电路将所述光信号转换为电信号,所述数字信号提取电路用于对所述电信号的精码与粗码的提取,所述所述放大电路对所述精码与粗码放大处理。
数据转换模块3包括电压比较器电路与信号波动补偿电路,所述电压比较 器电路将所述光电编码器信号处理模块输出的粗码、精码进行整形转换为数字位置信号,并结合补偿电路转换为高质量的数字信号,所述信号波动补偿电路对所述数字位置信号波动的补偿,以弥补因为温度变换、电压变换造成数据的变化;最后数据转换模块3将高质量的数字信号发送至数字信号处理模块4;数据转换模块3的输出的高质量的数字信号表征光电编码器1当前电气位置值的粗码、精码二进制数字信号。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海宇航系统工程研究所,未经上海宇航系统工程研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201420116688.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种粉体角度测试装置
- 下一篇:测量平面度的装置