[实用新型]光电编码器位置测试仪有效

专利信息
申请号: 201420116688.5 申请日: 2014-03-14
公开(公告)号: CN204027519U 公开(公告)日: 2014-12-17
发明(设计)人: 沈宗月;王卫楠;康岭;肖余之;曹鲁英;魏然;吴建桔;朱波;李向华;严云红;熊四军;力昌兵 申请(专利权)人: 上海宇航系统工程研究所
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 胡晶
地址: 201108 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 光电 编码器 位置 测试仪
【权利要求书】:

1.一种光电编码器位置测试仪,其特征在于,包括依次连接的光电编码器、光电编码器信号处理模块、数据转换模块、数字信号处理模块以及显示模块;所述光电编码器信号处理模块包括数字信号提取电路、转换电路和放大电路; 

所述光电编码器输出光信号至所述光电编码器信号处理模块,所述光电编码器信号处理模块将所述光信号转化为电信号并对所述电信号进行处理后输出给所述数据转换模块; 

所述数据转换模块接收经过处理的所述电信号并转换成数字位置信号; 

所述数字信号处理模块接收所述数字位置信号并转换为驱动信号发送至所述显示模块; 

所述显示模块接收所述驱动信号并显示所述光电编码器的电气位置。 

2.如权利要求1所述的光电编码器位置测试仪,其特征在于,所述转换电路用于将所述光信号转化为电信号,所述数字信号提取电路用于对所述电信号的精码与粗码的提取,所述放大电路对所述精码与粗码放大处理。 

3.如权利要求1所述的光电编码器位置测试仪,其特征在于,所述数据转换模块包括电压比较器电路与信号波动补偿电路,所述电压比较器电路将所述光电编码器信号处理模块输出的粗码、精码进行整形转换为数字位置信号,所述信号波动补偿电路对所述数字位置信号波动的补偿。 

4.如权利要求1所述的光电编码器位置测试仪,其特征在于,所述数字信号处理模块包括一FPGA芯片,所述驱动信号包括两方波信号。 

5.如权利要求4所述的光电编码器位置测试仪,其特征在于,所述显示模块包括一八位段式液晶显示屏,所述八位段式液晶显示屏包括一个公共端以及与八个数字位控制端,所述两方波信号分别输入到所述公共端与数字位控制端。 

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