[实用新型]一种非致冷半导体激光器的老化测试系统

说明书

技术领域

本实用新型属于光器件老化测试系统领域，特别是一种非致冷半导体激光器的老化测试系统。

背景技术

非制冷器半导体激光器由于其设计成本低，性能好等优点将大规模应用于光通信领域中，因此非致冷半导体激光器的可靠性与寿命越来越受到人们的重视。然而，到目前为止，高温下长时间测试激光器的性能开展得比较少，由于资金和技术等各方面的原因，并且激光器老化设备都比较昂贵，市场上专门针对非制冷半导体激光器的老化测试设备很少，测试系统并不全面。

发明内容

    本实用新型的目的是提供一种结构简单，可靠性强且操作方便，成本低，精度高的非致冷半导体激光器的老化测试系统。

本实用新型解决现有技术问题所采用的技术方案：一种非致冷半导体激光器的老化测试系统，包括用于放置待测激光器的测试接口板，用于为所述测试板驱动供电的控制板及用于显示测试结果的显示器，所述测试接口板与控制板连接，所述控制板的输出端与显示器连接；所述控制板包括ADC芯片，MCU控制器和为非制冷半导体激光器供电的可调驱动电路，所述驱动电路包括电流检测放大器芯片、运算放大器和三极管，所述测试接口板与所述可调驱动电路的电流检测放大器芯片连接，所述ADC芯片采集所述电流检测放大器输出的电压信号，并转为数字信号传递到MCU控制器的输入端，所述 MCU控制器将所述数字信号进行处理并通过输出端与显示器连接。

所述显示器的外部设有两个相互并联且电流方向相反的二极管，所述二极管连入所述可调电路的电路供电端。

所述老化测试系统由多路测试接口板、多块控制板及与所述控制板相对应的显示器组成，每一控制板为所述多路测试板的8路独立驱动供电。

所述ADC芯片采用ADS8344芯片。

本实用新型的有益效果在于：本实用新型是为了提高非制冷半导激光器的可靠性和稳定性而设计的一种老化测试系统。在高100℃环境下，通过上电老化测试，给非制冷半导体激光器提供一个稳定的受控电流，并实时监测激光器的实际工作电流，以达到可靠性筛选的目的，将早期失效产品滤除。每块控制板可以同时驱动八路激光器，每路激光器可以单独进行控制，本实用新型只需接上电源即可以进行老化测试，效率高，结果更准确、更实用。 

附图说明

图1为本实用新型的结构图；

图2为本实用新型的每块控制板的结构框图；

图3为本实用新型的每路可调驱动电路原理图。

图中，1-测试接口板，2-控制板，3-显示器，4-ADC芯片，5- MCU控制器，6-可调驱动电路。

具体实施方式

以下结合附图及优选实施方式对本实用新型进行说明：

图1是本实用新型一种非致冷半导体激光器的老化测试系统的结构图。一种非致冷半导体激光器的老化测试系统，包括用于放置待测激光器的测试接口板1，用于为所述测试接口板1驱动供电的控制板2及用于显示测试结果的显示器3，所述测试接口板1与控制板2通过导线连接，所述控制板2的输出端与显示器3连接；所述老化测试系统由多路测试接口板1、多块控制板2及与所述控制板2相对应的显示器3组成，每一控制板2为8路测试接口板独立驱动供电即每块控制板2可以驱动八路，这样可以同时进行8*n路激光器驱动，n=1,2,3,……，以达到批量测试的目的。为方便监测激光器短路或断路情况，在显示器的外部设有两个相互并联且电流方向相反的二极管，所述二极管连入所述可调电路的电路供电端。

图2为本实用新型一种非致冷半导体激光器的老化测试系统的每块控制板的结构框图。本实用新型的每块控制板2包括8路ADC芯片4，MCU控制器5和为非制冷半导体激光器供电的8路可调驱动电路6，控制板2通过外部滑动变阻器R2（图3所示）进行设定电流驱动值，激光器的工作电流由ADC芯片4进行数据采集，具体地，ADC芯片4优选ADS8344芯片，此芯片的特点是16位高精度转换。