[实用新型]一种非致冷半导体激光器的老化测试系统有效
| 申请号： | 201420001637.8 | 申请日： | 2014-01-02 |
| 公开（公告）号： | CN203643537U | 公开（公告）日： | 2014-06-11 |
| 发明（设计）人： | 崔琳;张彩 | 申请（专利权）人： | 大连藏龙光电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01M11/00 |
| 代理公司： | 大连博晟专利代理事务所(特殊普通合伙) 21236 | 代理人： | 于忠晶 |
| 地址： | 116000 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 致冷 半导体激光器 老化 测试 系统 | ||
【权利要求书】：
1.一种非致冷半导体激光器的老化测试系统，包括用于放置待测激光器的测试接口板，用于为所述测试板驱动供电的控制板及用于显示测试结果的显示器，其特征在于，所述测试接口板与控制板连接，所述控制板的输出端与显示器连接；所述控制板包括ADC芯片，MCU控制器和为非制冷半导体激光器供电的可调驱动电路，所述驱动电路包括电流检测放大器芯片、运算放大器和三极管，所述测试接口板与所述可调驱动电路的电流检测放大器芯片连接，所述ADC芯片采集所述电流检测放大器输出的电压信号，并转为数字信号传递到MCU控制器的输入端，所述 MCU控制器将所述数字信号进行处理并通过输出端与显示器连接。
2.根据权利要求1所述的一种非致冷半导体激光器的老化测试系统，其特征在于，所述显示器的外部设有两个相互并联且电流方向相反的二极管，所述二极管连入所述可调电路的电路供电端。
3.根据权利要求1或2所述的一种非致冷半导体激光器的老化测试系统，其特征在于，所述老化测试系统由多路测试接口板、多块控制板及与所述控制板相对应的显示器组成，每一控制板为所述多路测试板的8路独立驱动供电。
4.根据权利要求1所述的一种非致冷半导体激光器的老化测试系统，其特征在于，所述ADC芯片采用ADS8344芯片。
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