[发明专利]用于电子产品的测量方法和系统有效

专利信息
申请号: 201410857757.2 申请日: 2014-12-31
公开(公告)号: CN104534988B 公开(公告)日: 2018-01-30
发明(设计)人: 张玉贵;刘春阳;徐娟 申请(专利权)人: 广州兴森快捷电路科技有限公司;宜兴硅谷电子科技有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 代理人: 吴平
地址: 510663 广东省广州市广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 用于 电子产品 测量方法 系统
【说明书】:

【技术领域】

发明涉及一种丝印领域,特别涉及一种准确测量载板的线路、金手指等对象尺寸的方法和系统。

【背景技术】

随着电子电路行业的不断发展以及该行业后端产业链对线路电性能等方面要求的不断提高,电子产品对线路、金手指等关键设计对象的尺寸控制标准越来越严格。

目前对线路、金手指等对象的尺寸测量主要采用两种方式:金相显微镜与3D测量仪。因为金相显微镜测量在整个过程全部采用手动方式,测量对象边界的确定因人为因素差异较大,从而导致测量结果的准确性就会因为测量人员的方法不同或者测量人员的变动有较大的差异,因此大多数客户都会要求采用3D测量仪进行测量。

3D测量仪能够根据测量对象边界灰度的差异,自动进行边缘识别与拟合,可以较准确的进行线、金手指等微小对象的准确测量。但是由于在镜头下找到固定的测量点非常困难,测量效率也很不理想,与金相显微镜相比,同样设计的产品,采用金相显微镜完成线、手指的测量大概需要30分钟,但是采用3D测量仪进行手动对位测量则需要约1个小时甚至更长的时间。此时,测量所费时间过多,给实际生产带来了很多延迟,实有待改善。

【发明内容】

有鉴于现有技术中的缺陷,有必要提供一种电子产品的测量方法。

为实现上述目的,本发明采用如下方案:

一种用于电子产品的测量方法,其中,包括:

用3D测量仪根据电子产品确定数据库对应参数;

确定定位孔;

3D测量仪的测量镜头根据数据库对应参数移动到测量点;

测量镜头聚焦与定位准确后,测量所需数据;

根据数据库参数,测量所有测量点。

所述的测量方法,其中,该数据库参数至少包括产品编号,定位孔,定位孔坐标系,测量点坐标及对应测量对象以及测量点顺序。

所述的测量方法,其中,该测量对象包括线路、线宽、线距或金手指。

所述的测量方法,其中,该测量方法还包括将所述测量点的测量数据导出。

一种用于电子产品的测量系统,其中,包括:

3D测量仪,其包括测量镜头与一输入接口;

一控制模块,通过该3D测量仪的输入接口接收数据库参数,根据电子产品匹配到的数据库参数确定定位孔,并移动测量镜头到测量点;接收到测量镜头聚焦与定位准确后,测量所需数据;根据数据库参数,测量所有测量点。

所述的测量系统,其中,该数据库参数至少包括产品编号,定位孔,定位孔坐标系,测量点坐标及对应测量对象以及测量点顺序。

所述的测量系统,其中,该测量对象包括线路、线宽、线距或金手指。

所述的测量方法,其中,该测量系统还包括一输出单元,该输出单元将所述测量点的测量数据导出。

相对现有技术,由于本发明确保测量准确性的同时,大大的提高实际测量的效率,并简化定位系统程序制定的流程。

【附图说明】

图1为本发明测量方法与手动测量方法的对比图。

【具体实施方式】

下面结合图示,对本发明进行说明。

本发明的基本思想为针对电子产品的测量方法,主要是测量载板线宽线距、金手指宽度与间距等对象,从自动定位方法的实现以及定位程序的自动生成两个角度出发,在确保测量准确性的同时,大大的提高实际测量的效率,并从很多程度简化了定位系统程序制定的流程。

【实施一】

一种用于电子产品的测量方法,其中,包括:用3D测量仪根据电子产品确定数据库对应参数;确定定位孔;3D测量仪的测量镜头根据数据库对应参数移动到测量点;测量镜头聚焦与定位准确后,测量所需数据;根据数据库参数,测量所有测量点。

具体来说,测量者在进行电子产品尺寸测量时,从数据库中调出与该产品相同编号的参数,并通过实际产品边界设定的定位孔建立坐标系,开始自动运行测量。测量镜头移动到指定测量点时会自动停下,由测量者进行判定镜头聚焦与定位是否准确,若准确按“ENTER”键自动向下运行;若不准确,人工进行微调后再自动向后运行。重复以上步骤直至所有对象均测量完毕,测量结束,将测量数据直接导出。

该数据库参数至少包括产品编号,定位孔,定位孔坐标系,测量点坐标及对应测量对象以及测量点顺序。该测量对象包括线路、线宽、线距或金手指。

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