[发明专利]用于电子产品的测量方法和系统有效
| 申请号： | 201410857757.2 | 申请日： | 2014-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN104534988B | 公开（公告）日： | 2018-01-30 |
| 发明（设计）人： | 张玉贵;刘春阳;徐娟 | 申请（专利权）人： | 广州兴森快捷电路科技有限公司;宜兴硅谷电子科技有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人： | 吴平 |
| 地址： | 510663 广东省广州市广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 电子产品 测量方法 系统 | ||
1.一种用于电子产品的测量方法，其特征在于，包括：
用3D测量仪根据电子产品确定数据库对应参数，该数据库参数至少包括产品编号，定位孔，定位孔坐标系，测量点坐标及对应测量对象以及测量点顺序；
确定定位孔，以所述定位孔建立坐标系；
3D测量仪的测量镜头根据数据库对应参数移动到测量点；
测量镜头聚焦与定位准确后，测量所需数据；
根据数据库参数，测量所有测量点；
测量对象包括线路、线宽、线距或金手指；
所述测量镜头移动到所述测量点后停止运行，当判定所述测量镜头聚焦与定位准确后，测量所需数据。
2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，该测量方法还包括将所述测量点的测量数据导出。
3.一种用于电子产品的测量系统，其特征在于，包括：
3D测量仪，其包括测量镜头与一输入接口；
一控制模块，通过该3D测量仪的输入接口接收数据库参数，该数据库参数包括产品编号、定位孔坐标系，测量点坐标及对应测量对象以及测量点顺序，根据电子产品匹配到的数据库参数确定定位孔，并移动测量镜头到测量点；接收到测量镜头聚焦与定位准确后，测量所需数据；根据数据库参数，测量所有测量点；
测量对象包括线路、线宽、线距或金手指；
所述测量镜头移动到所述测量点后停止运行，当判定所述测量镜头聚焦与定位准确后，测量所需数据。
4.根据权利要求3所述的测量系统，其特征在于，该测量系统还包括一输出单元，该输出单元将所述测量点的测量数据导出。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广州兴森快捷电路科技有限公司;宜兴硅谷电子科技有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司，未经广州兴森快捷电路科技有限公司;宜兴硅谷电子科技有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
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